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LB440料位计培训资料
、系统概述
1.测量原理
LB440 料位计是利用T射线通过物料时被物料吸收的原理来测量料位的。 丫射线穿过物料时被物料吸收,从而强度减弱,这个过程遵循一个物理定律。写成 数学公式如下:
I = I °x 矿—L
其中I。为穿过物质前的射线强度,I为穿过密度为p、路径为d的物料后的射线强 度,V为吸收系数,与放射源的类型有关,对丁给定的放射源,V可以认为是常数。
图1为测量原理图。
图1:测量原理
由丁测量系统与所测物料的非接触性,使得物料对测量不产生任何物理和化学
上的影响,从而保证了测量的高可靠性及低维护量
2. 系统配置
对丁不同的测量任务,需要不同的系统配置。选择最佳配置就是选择 最合适的 放射源以及最合适的探测器。选择系统配置的主要依据是 测量范围、测量部位 的几 何形状等。
2. 1 棒源/点探测器配置
图二是棒源/点探测器的基本配置图以及相应的标定曲线图。棒源的长度根据 所需的测量范围而定。棒源的强度分布保证了测量的线性,即探测器接收到的信号 与料位的变化成线性关系。在这种情况下,电子线路不再需要线性化。因此,标定 及操作很容易。
料位
棒源
探头个
信号
图2:棒源配置示意图
2. 2 棒探测器/点源配置
图三是棒探测器/点源的基本配置图。棒探测器的长度根据所需的测量范围而 定。如果所需的测量范围太大,则需要两个以上的棒探测器。如果一个点源不适宜 就用两个或多个点源。测量的非线性由主机内的电子线路补偿。对丁某个特定的测 量系统的线性修正数据由 EGG Berthold提供。
料位
棒源
信号
图3:棒探测器配置示意图
2. 3 棒源/棒探测器配置
如果测量范围太大,而且探测器至源的距离太大或者设备的壁太厚,应选择棒 源/棒探测器配置,如图四。在这种情况下,源与探测器的长度都应与测量范围相等。
测量的非线性由存储在主机内的修正数据修正。修正数据由 EG(Berthold提
料位
棒源
信号
图4:棒源/棒探测器配置示意图
2. 4 点源/点探测器配置
在测量范围很小的情况下,可以选择点源/点探测器配置,如图5。 此时测量的的非线性纯由指数规律引起,通过主机内的软件就能得到修正。
料位
信号
图5:点源/点探测器配置示意图
3 LB440主机
3. 1概述
主机置丁一 19英寸、3HE 21TE的框架内,包括CPUft与电源板。微处理器 是32位的。面板上有六个触摸式键盘,其中三个是操作键,用丁设置或修改参数, 另外三个是功能键 。面板上的显示窗内有4行显示。RS232接口也在前面板上。
图6: LB440面板示意图
接线端子在后面板上。包括电源接线端子、探头接线端子、电流输出接线端子、 数字输入/输出接线端子。电流输出信号是隔离的,高、低限报警继电器、故障报 警继电器的输出也是隔离的。一个机架内可以容纳一个主机、数个副机。副机用于 与其余的探头连接并与主机通信。
系统对放射源的自然衰减进行自动补偿。
全部标定数据存储在可擦写存储器内,就是在电源出现故障时也不会丢失。
主机的显示窗内有4行显示,前三行是菜单内容,用于显示被选的参数或者当 前的测量值。最后一行显示当前三个操作键的功能, 或者,当仪表处于测量状态时, 显示“run
3. 2 菜单结构(原理)
图7为菜单结构图。键〈more〉用于选择各菜单组,键〈ski〉及键〈sk2>用 于从菜单组中选择的子菜单。在子菜单中用〈 more〉选择不同的条目,在子菜单的 结尾,用〈done〉即可回到本子菜单所在的菜单组。
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图7:菜单结构图
3. 3 键盘功能
料位计的操作通过键盘来完成。键盘包括操作键及功能键。
操作键
操作键用丁选择不同的菜单组和存取参数。在菜单的不同位置操作键有不 同的意义。其意义由显示窗对应的符号决定。
操作键
功能
Ski
与
Sk2
在某一菜单组中选择子 菜单
more
进入下一个菜单组
操作键
功能
AAA
在子菜单中选择不同条 目,或在光标所在的数上 加 “1”。
操作
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