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基于光源步进法的条纹投影三维测量系统标定与改进 摘要 光学三维形貌测量技术是一种非接触的三维测量技术。它具有高速，高精度 和高分辨率等优点，广泛应用与各个行业之中，例如工业检测、文物保护、逆向 工程以及最近发展迅速的3D 打印和增强现实 （AR ）等等。目前，相位测量轮 廓术和傅里叶变换轮廓术等基于条纹投影的三维形貌测量方法得到了广泛的应 用和研究。采用液晶和数字微镜的投影仪是常用的条纹投影设备。其中数字微镜 投影速度快，但数字微镜价格较高。而液晶投影仪的价格相对较低，但投影速度 较慢，不适用于高速测量。同时这些投影仪占据测量系统大部分的体积，不利于 测量系统紧凑化。采用罗琦光栅和LED 光源阵列的光源步进法相移条纹投影系 统速度快、体积小、价格低廉，在结构光三维测量中有良好的应用前景。本论文 对光源步进法三维测量系统原理进行了分析。改进了测量系统的标定方法，扩展 了系统的测量深度范围。 论文主要内容有以下几部分： （1）介绍了光学三维形貌测量技术及其研究 现状； （2 ）介绍了条纹投影三维测量技术及光源步进法投影系统的原理； （3 ） 研究了测量系统的标定方法。针对光源步进法三维测量系统特点，讨论了相位与 三维坐标的映射方法，提出了采用平面靶标的系统标定方法。 （4 ）分析了光源 步进法相位测量误差与深度的关系。得出在偏离设定深度范围时，相移量偏离标 准值较大，相移法测量的相位局部平滑性变差，相位-高度映射误差变大，导致 系统的测量范围较小。针对这一问题，提出改进的傅里叶变换法，提高了相位的 局部平滑性，扩大了系统的测量范围。 （5 ）搭建了光源步进法条纹投影三维测 量系统，进行标定实验，分析了标定精度。 本论文创新点主要有： （1）提出了一种采用平面靶标的系统标定方法对光 源步进法条纹投影三维测量系统进行标定，简化了系统标定的硬件要求。 （2 ） 采用改进的傅里叶变换法，扩大了系统的测量深度范围。 关键词：光学三维形貌测量；条纹投影；相位-三维坐标映射；摄像机标定；相 I 位测量轮廓；傅里叶变换轮廓术 II CALIBRATION AND IMPROVEMENT OF FRINGE PROJECTION THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT SYSTEM BASED ON THE LIGHT-SOURCE-STEPPING METHOD ABSTRACT Optical three-dimensional topography measurement technology is a non-contact three-dimensional measurement technology. It has the advantages of high speed, high precision, and high resolution, and is widely used in various industries, such as industrial inspection, cultural relics protection, reverse engineering, and the recent rapid development of 3D printing and augmented reality (AR). Currently, three-dimensional topography measurement methods based on fringe proj ection, such as phase measurement profiling and Fourier transform profiling, have been widely used and studied. Proj ectors using liquid cr