3-2-原子力显微镜.pdf

第二章 扫描探针技术 第一节 扫描隧道显微镜技术 第二节 原子力显微镜技术 1 原子力显微技术 原子力显微技术 Atomic Force Microscopy Atomic Force Microscopy • Introduction • Principles • AFM Instrumentation • AFM Examples • Other SPM Techniques 2 概况 AFM 的产生背景 • 能用STM研究的材料必须具有一定的导电性，体导电率高 -9 于10 S/m的样品能用商品STM进行研究。 • 如果用普通的STM研究电阻率很高的材料，就需要用大偏 压且样品很薄，否则针尖会插入样品直至针尖与导电性好 的基底能达到设定的隧道电流时，STM才能正常工作。 • 在STM实验中还发现针尖-样品间存在力的相互作用。 • 1985年，IBM公司的Binning （STM的发明者，1986年诺贝 尔物理学奖）和Stanford大学的Quate在STM基础上研发出 了原子力显微镜（AFM ），可用于研究绝缘体样品的表面 结构，弥补了STM 的不足。以后又衍生出一系列测量力的 科学仪器，统称扫描力显微镜(Scanning Force Microscope, SFM)。 3 概况 4 概况 5 6 概况 AFM 的三大特点 原子级的高分辨率 光学显微镜的放大倍数一般都超不过1000倍; 电子显微镜的放大倍数极限为100万倍; AFM 的放大倍数能高达10亿倍 Can measure surface features with dimensions ranging from inter-atomic spacing to 0.1mm Resolution limited by size of tip (2-3nm) Resolution of imaging 5nm lateral and .01nm vertical 观察活的生命样品 电子显微镜的样品必须进行固定、脱水、包埋、切片、染色等一 系列处理,因此电子显微镜只能观察死的细胞或组织的微观结构; 原子力显微镜的样本可以是生理状态的各种物质,在大气条件或溶 液中都能进行,因而只需很少或不需对样品作前期处理,这样,就使 AFM能观察任何活的生命样品及动态过程。 7 概况 AFM 的三大特点 加工样品的力行为 AFM能测试样品的硬度和弹性等; AFM还能产生和测量电化学反应； AFM还具有对标本的分子或原子进行加工的力行为， 例如:可搬移原子、切割染色体、在细胞膜上打孔等等。