新型IC芯片封装技术概述.pptx

  1. 1、本文档共48页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
新型IC芯片封装技术概述;电子产品与微电子制造 三维电子封装技术 层间互连技术 高密度键合互连技术;电子产品是智能化商品;电子产品的核心是集成电路;微电子产品的基本构成与互连的关系;互连作用;晶体管制造与互连 30-500纳米;摩尔定律已接近极限;;三维集成与封装的主要方法;TSV使晶圆与封装厂合作变得更紧密;三维封装市场需求及市场规模;CSCM (Chip Scale Camera Module) – WLP;TSV-3D封装中的关键技术;各工艺所占成本比例;;湿法刻蚀;激光加工;深层等离子体刻蚀工艺( DRIE);典型的DRIE工艺;三种硅通孔制作手段比较;晶圆减薄;研磨、抛光和刻蚀;RIE和Backside Processing;三维叠层封装是今后电子封装技术发展的必然趋势 通过硅通孔镀铜互连的TSV封装将成为三维封装技术的主流;Via last 镀铜填充; 通过两种以上的添加剂实现高深宽比填充,不允许产生空洞。普通添加剂很难获得满意效果; 从TSV数百微米的硅孔,到大马士革铜互连的数十纳米,需要采用不同的添加剂,难度非常大; 大马士革镀铜,要求每分钟镀一片,TSV要求20分钟以内,业内有采用甲基磺酸铜的倾向;杂质含量多要求在ppb量级水平,微尘数量必须在很少的范围;我们取得的核心成果;加速区;;电镀/印刷;含Cr中低温新型无铅焊料;三维封装对键合技术的新要求;高密度微凸点的电沉积制备技术;各种各样的电镀凸点;电镀凸点应注意的事项;低温键合互连技术进展;Au-In低温互连;基于纳米阵列材料的低温固态互连技术; 表面纳米阵列材料是指表面纳米管、纳米球、纳米线、纳米孔等纳米结构有序排列的阵列材料。表面纳米阵列材料可采用光刻,铝氧化模板,气相沉积和自组装等方法制备,但设备和工艺复杂,难于实现大面积可控制备。本技术通过特殊的电化学定向电结晶方法成功开发了镍基、钴基以及铜基表面纳米针锥阵列材料(NCA)的可控制备技术,为在各领域的应用创造了条件。;表面纳米阵列材料的可控制备技术;剪切强度 (MPa);600 ℃; 随着集成电路的高密度、多功能化,对铜互连材料与工艺的要求也越来越高,很多性能都将会对可靠性产生影响。如抗氧化性,电迁移特性,热稳定性、界面反应等。在我们的研究???,发现了不同的晶格取向将对铜氧化性能产生较大的影响,晶格取向不同、氧化速度各异,氧化膜的性能也将发生变化。;THANKS

文档评论(0)

智慧IT + 关注
实名认证
内容提供者

微软售前技术专家持证人

生命在于奋斗,技术在于分享!

领域认证该用户于2023年09月10日上传了微软售前技术专家

1亿VIP精品文档

相关文档