JY∕T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则(可复制版).pdf

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ICS 03. 180 y 51 』Y 中华人民共和国教育行业标准 JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则 General rules of analytical methods for the scanning probe microscope 2020-09-29 发布 2020-12-01 实施 中华人民共和国教育部 发布 JY/T 0582-2020 目次 前言………………皿 1 范围…”…………”……”…·…… 1 2 规范性引用文件………·………………”…. 1 3 术语与定义……………”………””…. 1 4 方法原理………………………”… 2 5 分析环境要求…”…………………… 3 6 实验材料……“…·……”… 3 7 仪器…“………”………·……”…… 3 8 样品及其制备…………”…·……”…… 4 9 分析测试………”………·……”…… 4 10 结果报告………”………·……”…… 6 11 安全注意事项…………”……”…·… 7 附录 AC资料性附录) 扫描器和探针的选择………”…·… 8 附录B (资料性附录) 图像失真分析……·……”…··… 9 参考文献……·……………… 11 I JY/T 0582-2020 前 言 本标准依照 GB/T 1.1 2009 给出的规则起草。 本标准由中华人民共和国教育部提出。 本标准由全国教育装备标准化技术委员会化学分技术委员会(SAC/TC 125/SC 5 )归口回 本标准起草单位g 上海交通大学、汕头大学、西南科技大学、北京大学、华东理工大学。 本标准主要起草人员=李慧琴、陈耀文、胡海龙、潘伟、王邵雷。 ill JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则 1 范围 本标准规定了扫描探针显微镜主要的方法原理、实验材料、仪器、样品及其制备、分析测试、结果报告 和安全注意事项。 本标准适用于扫描探针显微镜在大气、液体环境和真空中进行微区形貌、力学、电磁学、热学性能和 纳米操纵的分析。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单〉适用于本文件。 GB/T 27760 2011 利用 Si(lll )晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 GB/T 31226 2014 扫描隧道显微术测定系统部件表团粗糙度的方法 GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙

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lq6799
该用户很懒,什么也没介绍

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