UT设备与器材练习题.docx

UT中级设备与器材知识练习题 —?是非题 1.A型脉冲反射式超声波探伤仪是以判断回波位置.回波高度和回波形状来评价缺陷的 1. A型脉冲反射式超声波探伤仪是以判断回波位置.回波 高度和回波形状来评价缺陷的0 (O) B型显示能展现工件中缺陷的埋藏深度。(O) C显示能展现工件中缺陷的投影形状，不能展现深度。(O) 探头的近场区就是探头的盲区。(X) 6.单晶直探头始脉冲宽，盲区大。双晶直探头盲区小。(O) 6. 硬保护膜适用于表面较光洁的工件检测，但较软保护膜带 来更大的始波宽度，分辨力变差，灵敏度降低。(O) 7.阻尼块的作用是使探头晶片振动时间缩短，但同时也吸收 了探头产生的杂波(O) 毛面探伤时，用软保护膜探头灵敏度比硬保护膜低_生 9.双晶直探头相当于一个粗糙的聚焦探头，探头中两个晶片 的倾角越大则探测深度越大(X) 10?聚焦探头的主要优点是声束细，指向性好，能量集中，定 位精度高，扫查范围大。(X) 11 ?由于水中只能传播纵波，所以水浸探伤只能进行纵波探 伤。(X) 12?使用耦合剂的主要目的是去除探头与工件间的空气间隙, 使超声波能够传入工件。（O） 13?手工探伤，为使探头与工件良好接触，用力越大越好。（X） 14?斜探头前部磨损较大，则K值将会增加。（X） 15 ?调节衰减器不会影响仪器的垂直线性，而改变增益和抑止 旋钮则会影响仪器的垂直线性（X） 16?增大仪器的发射强度，则仪器灵敏度会进一步提高，同时 对缺陷的分辨率也会减小（O） 二.选择题 1- A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是: A?缺陷的性质和大小 B?缺陷的形状和取向 C?缺陷回波的大小和超声传播的时间 D.以上都是 2. A型扫描显示中, 2. A型扫描显示中, 荧光屏上垂直显示波高的大小表示: （A （A ） 超声回波的幅度大小 C.被探材料的厚度 3.影响仪器灵敏度的旋纽有: A.发射强度和增益旋纽 B?缺陷的位置 D?超声传播时间 （D ） B.衰减器和抑制 C.深度补偿D. C.深度补偿 D.以上都是 4.仪器的垂直线性好坏会影响（A ） A.缺陷的当量比较 C.缺陷的定位 B.AVG曲线面板的使用 D.以上都对 5.调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（D ） A.垂直线性 B.动态范围 C.灵敏度 D.以上全部 单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往 往不能有效地检出，这是因为（C ） A.近场干扰 C.存在盲区 B.材质衰减 D.折射 表示探伤仪与探头组合性能的指标有：（B ） A?水平线性.垂直线性.衰减器精度 B?灵敏度余量.盲区.远场分辨力 C?动态范围.频带宽度.探测深度 D?垂直极限.水平极限.重复频率 &目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是（C ） A.石英 C.错钛酸铅 B.钛酸顿 D.硫酸锂 9.以下哪一条，不属于双晶探头的优点（A ） A.探测范围大 B.盲区小 C.工件中近场长度小 D.杂波少 10?对超声波试块材质的基本要求是（D ） A.其声速与被探工件声速基本一致 材料中没有超过4）2mm平底孔当量的缺陷 C?材料衰减小且均匀 D.以上都是 11 ?超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为：（D ） A.检测灵敏度 A.检测灵敏度 C.垂直线性 B.时基线性 D?分辨力 12?下面关于横波斜探头的说法哪一句是错误的（C ） A.横波斜探头是由直探头加透声斜楔组成 B.斜楔前面开槽的目的是减少反射杂波 超声波在斜楔中的纵波声速应大于工件中的横波声速 D?横波是在斜楔与工件的交界面上产生 13?探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用（C ） A?声阻抗小且粘度大的耦合剂 B.声阻抗小且粘度小的耦合剂 C?声阻抗大且粘度大的耦合剂 D?以上都不是 14?关于耦合剂选用的说法错误的是（D ） A?表面粗糙的工件耦合剂应当选粘度大的合适 B?对竖面工件探伤，用水玻璃比用甘油好 C?在防锈场合使用耦合剂，用机油比较合适 D?无论什么场合用价格低廉的耦合剂都合适