电子测量与仪器数据域测量-逻辑分析仪.ppt

(4) 图解显示 BCD 数据序列的图解显示 0 5 10 程序执行的图解显示 2000H 20FFH 主程序 子程序 循环程序 图解显示 将屏幕 X ， Y 方向分别作为时间轴和数据轴进行显示的一种方 式。它将要显示的数据通过 D/A 转换器变为模拟量，按照存储 器中取出数据的先后顺序将转换所得的模拟量显示在屏幕上， 形成一个图像的点阵。 ? 主要技术指标 ① 定时分析最大速率。 ② 状态分析最大速率。 ③ 通道数。 ④ 存储深度。 ⑤ 触发方式。 ⑥ 输入信号最小幅度。 ⑦ 输入门限变化范围。 ⑧ 毛刺捕捉能力。 五、 逻辑分析仪的技术指标及发展趋势 ? 发展趋势 ? 分析速率、通道数、存储深度等技术指标也在不断提高 ? 功能不断加强。 ? 与时域测试仪器示波器的结合 ，提高混合信号分析能力 ? 向逻辑分析系统（ Logic Analyze System ）方向发展。 六、 逻辑分析仪的应用 ? 硬件测试及故障诊断 激励信号 被测电路 逻辑分析仪 例： ROM/ASIC 的指标测试 ( 最高工作频率、寿命测试、 高低温测试 ) 数据发生器 ROM 逻辑分析仪 频率计 地址 数据 外时钟 ROM 指标参数测试 例：毛刺信号的测试 分频 电路 74LS138 A B C G /G2 A /G2B 逻辑 分析仪 （ a ） 译码电路的测试 （ b ） 译码电路输出定时图 逻辑定时分析仪测试译码电路及其毛刺 /Y 0 /Y 1 /Y 2 /Y 3 /Y 4 /Y 5 /Y 6 /Y 7 实例： HB9402 ? 软件测试与分析 03CF 042D 03F2 通路 A 通路 B 分支程序的跟踪测试 通路 B 触发条件（ 03F2 ） 通路 A 导引条件（ 042D ） 逻辑分析仪也可用于软件的跟踪调试，发现软 硬件故障，而且通过对软件各模块的监测与效率分 析还有助与软件的改进。 例 1 ： 80C51 指令执行信号时序测试 例 2 ：分支程序跟踪测试 9.3 可测性设计 主要内容 : ? 一、概述 ? 二、扫描设计技术 ? 三、内建自测试技术（简） ? 四、边界扫描测试技术（简） ◆ 可测性设计出现的背景： VLSI ◆ 传统的系统设计方法的缺陷 ◆ 可测性设计 --- 在系统的设计阶段就同时考虑测试的需 求，以提高系统的 可测试性 ◆ 可测性的量化 ---- 可测性测度 可控性 （ Controllability ） — 对电路中各节点的 逻辑值控制难易程度的度量 可观性 (Observability) — 对故障信号进行观察 或测量难易程度的度量 一、 概述 ◆ 可测性设计考虑的主要问题 什么样的 结构 容易作故障诊断 什么样的系统，测试时所用的 测试矢量 既数量 少，产生起来又较方便 测试点和激励点 设置在什么地方，设置多少， 才能使测试比较方便而开销又比较少 ◆ 结构可测性设计 — 从可测性的观点对电路的结构提 出一定的规则，依据可测性设计的一般规则和基本模 式来进行电路的功能设计，使得设计的电路容易测试 ◆ 扫描通路法 二、 扫描设计技术 ◆ 基本原理 --- 将一个集成电路内所有状态存储器件串 接起来，组成一个 移位寄存器 ，使得从外部能容易地 控制并直接观察这些状态存储器件中的内容 ◆ 同步时序电路的一般模型 { Y 1 Y 2 Y n-1 Y n 状态存储器件 系统时钟 PO N PI y . . . N — 组合电路 Y i — 状态存贮器件 PO — 主输出 PI — 主输入 ◆ 对状态存储器件的 控制和观测只能通过组 合电路间接进行，使测 试问题复杂 第九章 数据域测量 — 逻辑分析仪 9.1 数字系统测试的基本原理 9.2 逻辑分析仪 9.3 可测性设计 9.4 数据域测试的应用 仪器科学与工程系 9.1 数字系统测试的基本原理 一、数据域测试 / 数字系统测试的特点 在现代数字电路和系统中，对其数据信息的测 试技术就称为 数据域测试 。它具有以下 特点 ： ? 响应和激励间不是线性关系 ? 从外部有限测试点和结果推断内部过程或状态 ? 微机化数字系统的软件导致异常输出 ? 系统内部事件一般不会立即在输出端表现 ? 故障不易捕获和辨认 给测试带来困难 二、相关术语 ◆ 故障侦查 / 检测 (Fault Detection) ： 判断被测电路中 是否存在 故 障 ◆ 故障定位 ：查明故障 原因 、 性质 和产生的 位置 ◆以上合称 故障诊断 ，简称诊断 ◆ 缺陷 (Defect) ： 物质上的不完善性。 ◆ 失效 (Failure) ： 缺陷导致电路产生错误的运作 ◆ 故障 (Fault) ： 缺陷引起的电路异常，缺陷的 逻辑 表现 缺陷和故障非一一