材料近代分析测试方法复习试卷4.docx

  1. 1、本文档共4页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
南华大学《材料近代分析测试方法》课程考试样卷 4 : 号 一、 名词解释( 30 分,每题 3 分) 学 1)短波限 : 线 线 2)质量吸收系数 3)吸收限 4) X 射线标识谱 5)连续 X 射线谱线 6)相干散射 7)闪烁计数器 订  封 8)标准投影图 : 名9)结构因数 姓10)晶带面(共带面)晶带轴11)选择反射 12)倒易点阵 13)极图 14)球差 密 装 15)衍射衬度 16)、结构消光 二、填空题:( 20 分,每空 1 分) : 1、 、 和 是三种重要的表面成分分析仪器。 级 2、电子探针的功能主要是进行微区成分分析,根据检测信号的不同分为 和 。 班 业 3、 和 互为倒易。 专 4、 是标准零层倒易截面的比例图像, 的指数就是衍射斑点的指数。 5、电子束的 、 以及 是影响扫描电子显微镜分辨率的三大因素。 6、 X 射线衍射仪的试样一般是将多晶粉末压在样品框内制成,粉末微粒线度约为 至。 7、透射电子显微镜的试样必须导电, 一般采用 样品和 样品,薄膜样品的厚度都在 以 下。 8、扫描电子显微镜的试样必须导电,一般采用 样品或 样品。 9、透射电子显微镜一般是利用 ,扫描电子显微镜一般是利用 或 成像。 10、电子探针一般可通过定 分析、 分析和 分析三种分析方法进行成分分析。 三、简答题( 20 分,每题 10 分) 1、 X 射线衍射定性分析、定量相分析的基本原理各是什么?简述 X 射线衍射定性分析的基本 步骤,结合 K 值法简述 X 射线衍射定量相分析的主要过程。 2、分别说明透射电子显微镜成像操作与衍射操作时各级透镜之间的相对位置关系。 3、透射电镜中有哪些主要光阑?在什么位置?其作用如何? 4、实验中选择 X 射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以 Fe 为主要成分的样品, 试选择 合适的 X 射线管和合适的滤波片? 5、何为波谱仪和能谱仪?说明其工作的三种基本方式,并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。 四、计算题( 30 分) 1、已知铝的点阵常数 a=0.405nm,今用 CuKα( λ =1.5406?)辐射在衍射仪上扫描测试其粉末样 品,试问其最低角的三条衍射线是由哪三个晶面衍射产生的?分别计算这三个衍射角及三条衍 射线的强度(忽略温度因子和吸收因子的影响) 。( 20 分) 原子散射因子 sin nm 0.0 1.0 2.0 3.0 4.0 5.0 6.0 7.0 8.0 9.0 10.0 11.0 fAl 13.0 11.0 8.95 7.75 6.6 5.5 4.5 3.7 3.1 2.65 2.3 2.0 : 2、画出面心立方晶体 [001]晶带的标准零层倒易截面图,只画出中心点周围的 8 个倒易阵点即 号 可。( 10 分) 学 线 封 : 名 姓 密 : 级 班 业 专

文档评论(0)

182****0747 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档