材料近代分析测试方法复习试卷5.docx 4页

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  • 2021-02-23 发布

材料近代分析测试方法复习试卷5.docx

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    南华大学《材料近代分析测试方法》课程考试样卷 5 : 号 一、 单项选择题(每题 2 分,共 10 分) 学 1.成分和价键分析手段包括【 】 a) WDS 、能谱仪( EDS)和 XRD (b) WDS 、 EDS 和 XPS 线 线 ( c) TEM 、 WDS 和 XPS ( d) XRD 、FTIR 和 Raman 2.分子结构分析手段包括【 】 ( a)拉曼光谱( Raman)、核磁共振( NMR )和傅立叶变换红外光谱( FTIR ) ( b)NMR 、 FTIR 和 WDS ( c) SEM、 TEM 和 STEM (扫描透射电镜) ( d) XRD 、 FTIR 和 Raman 3.表面形貌分析的手段包括【 】 ( a) X 射线衍射( XRD )和扫描电镜( SEM ) (b) SEM 和透射电镜( TEM ) (c) 波谱仪( WDS )和 X 射线光电子谱仪( XPS ) (d) 扫描隧道显微镜( STM )和 封 订 SEM 4.透射电镜的两种主要功能: 【 】 : ( a)表面形貌和晶体结构 ( b)内部组织和晶体结构 名 姓 ( c)表面形貌和成分价键 ( d)内部组织和成分价键 5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括: 【 】 密 装 : 级 班 业 专 ( a)– C-H 、– OH 和– NH2 (b) – C-H 、 和– NH2, (c) – C-H 、 和-C=C- (d) – C-H 、 和 CO 二、判断题(正确的打√,错误的打×,每题 2 分,共 10 分) 1.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。 ( ) 2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。 ( ) 3.透镜的数值孔径与折射率有关。 ( ) 4. 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。 ( ) 5.在样品台转动的工作模式下, X 射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。( ) 三、简答题(每题 5 分,共 25 分) 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么 ? 2.原子力显微镜的利用的是哪两种力,又是如何探测形貌的? 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么? 4.什么是化学位移,在哪些分析手段中利用了化学位移? 5.拉曼光谱的峰位是由什么因素决定的 , 试述拉曼散射的过程。 四、问答题 (10 分) 说明阿贝成像原理及其在透射电镜中的具体应用方式。 五、计算题( 10 分) 用 Cu K α X 射线( λ =0.15405nm )的作为入射光时,某种氧化铝的样品的 XRD 图谱如下, 谱线上标注的是 2θ 的角度值,根据谱图和 PDF 卡片判断该氧化铝的类型,并写出 XRD 物 相分析的一般步骤。 六、简答题(每题 5 分,共 15 分) 1.透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像? 2. 简述能谱仪和波谱仪的工作原理。 3. 电子束与试样物质作用产生那些信号?说明其用途。 : 号 七、问答题 学1.根据光电方程说明 X 射线光电子能谱( XPS)的工作原理。 以 Mg K α 射线 ( 能量为 1253.8 eV) 为激发源,由谱仪(功函数 线 981.5eV ,求此元素的电子结合能。 ( 5 分)  (5 分) 4eV )测某元素电子动能为 封2.面心立方结构的结构因子和消光规律是什么?( 8 分) : 如果电子束沿面心立方的 【 100】晶带轴入射, 可能的衍射花样是什么, 并对每个衍射斑点予以 标注?( 7 分) 名 姓 密 : 级 班 业 专

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    • 内容提供方:182****0747
    • 审核时间:2021-02-23
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