手机天线检 验标准.doc

天 线 组 件 文件编号:HBＳ—PZ -—－WI-012 拟文人/时间 FROＭ/DATE: /20１7、8。1 □文件类型:ＧATEGORY检验规范 □传阅CＩＲCUＬAR　 　□阅后存档 ＦIＬIG 　　 　 保密/期限 　COＮFＩDＥNTIAL/ＴＥＲM 　□其它 OTHERS 更改记录 发行/修定日期 修定内容摘要 页次 版本/版次 总页数 拟制 审核 批 准 2０17—0８-0１ 初版 1—7 Ａ/0 ７ 陈斌 　　 　 目录 1。0 目得? 2.0?范围 3.0 抽样计划 ４.0 定义 ４、1 检验条件 4、2 抽样标准 5、0 术语与定义 5。1?缺陷等级 5、２?天线不良缺陷定义 ５.3 附着力等级定义 ６。０?检验内容 ６。1? 外观不良判定标准 6、２?　尺寸判定标准 7。０ 可靠性试验及判定标准 8、０ 周期性测试要求 9.0 包装要求 １0、0 出货附带报告 手机天线检验标准 1。０目得 本标准明确了深圳市华邦盛电子有限公司手机天线得质量检验标准,确保产品质量达到客户要求。 2、0范围 本标准适用于深圳市华邦盛电子有限公司手机天线得质量检验与控制。 3。０抽样计划 按GB28２8。１—200３　中一般检验得Ⅱ级水平进行抽检,合格质量水平(AQL)及检验查水平规定(见表１)。 　 表1 　 检验项目 抽样方案 　 　 　合格质量水平 　常 　 规 检 　验 　 包装箱 ＧB2828、1-2003 Ⅱ级 　 ＣＲ Maj Miｎ 　 最小包装箱 　０ ０.4 １。0 　 颜色/外观 尺寸测量 取样１0PCＳ ACＣ=0;REJ=１ 　　 结构/Saｍple 取样3PCS ACC=0;RＥJ=1 组件配装 取样3PCS AＣC=0;RＥJ=1 性能测试 参照可靠性测试标准 ACC=0;RＥJ=1 4。0定义: 　 4.1、 检验条件 　　 4。2、1 距离:人眼与被测物表面得距离为250mm—３５０mm; 4、２。2 时间:每面检查时间不超过5-10S; ４。２、3 位置:检视面与桌面成45°,上下左右转动15°,前后翻转; 4.2、4光源:D65－CLE标准光源(光源必须在检验测者正前上方); 4。2、５温度:2３+／—3℃; 4、2。6湿度:30％—8５％; ４。2、7光照强度:1０00±200LUＸ; 4.２、８视力:检验员视力需在1.0以上; 4、2。9检测工具:卡尺; ４、2抽样标准: 采用ＭIL—ＳTD—105E　IＩ表,正常检验、单次抽样计划,AQL订定为CRI(０) , ＭAJ　(0、4) 及　MIN (1、0); 5。0术语与定义 5.1。缺陷定义 致命缺陷:(ＣRITＩCAL) 产品存在对使用者得人身及财产安全构成威胁得缺陷或造成天线不能使用得缺陷或严重影响主要性能指标、功能不能实现得缺陷; 主要缺陷:((ＭAJＯR) 　 　 　　 重要得质量特性与功能特性不符合部件规格,不能达到使用效果,或严重影响外观收货标准及其它可能引起投诉得缺陷; 　 　　 　次要缺陷:(MIＮOR) 影响天线外观得缺陷,不影响产品使用,最终有可能愿意让步接受得缺陷; 5、２天线不良缺陷定义 　 　 漏雕/漏喷涂:漏雕字符或线路,局部漏喷涂; 锯齿:雷雕得线路或文字边缘呈锯齿; 针孔:雷雕或喷涂、丝印表面有针孔; 油污/脏污:工作台面不整洁或其它环境造成; 划伤/划痕:外力或利器造成; 变形、折邹:包装或制作时未保护好; 弹片触点偏位:主板天线弹片接触不到; 弹片触点起翘:弹片触点与天线本体分离; 色差:与样品不一致; 起泡:雷雕/喷涂过程形成; 断线:一条完整线路出现断开; 短路:两条线或两条以上得导电线路连接在一起; 字体图文:印刷、丝印、镭雕、腐蚀等工艺不良; 缺料:产品不完整; 利边、毛边:切割工艺未切彻底; 触点氧化:表面生锈,发白; 　５。3附着力等级定义 5Ｂ-　划线边缘光滑,在划线得边缘及交叉点处均无表层脱落; 4B- 在划线得交叉点处有小片得表层脱落,且脱落总面积小于５%; 3B- 在划线得边缘及交叉点处有小片得表层脱落,且脱落总面积在5％～15%之间; ２B- 在划线得边缘及交叉点处有成片得表层脱落,且脱落总面积在15％～３5％之间; 1B-　在划线得边缘及交叉点处有成片得表层脱落,且脱落总面积在３5％~65％之间; 0B－ 在划线得边缘及交叉点处有成片得表层脱落,且脱落总面积大于65％、 ６.０检验内容 6。1外观判定标准 备注: 1。所有外观不良潜在影响功能不