门电路特性实验报告教案讲义.docx

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门电路特性实验报告 一、实验目的 1.了解数字集成电路外形结构及外部引脚的排列规律。 2.掌握逻辑门电路主要特性、参数的测试方法。 3.学习查阅器件手册。 4.进一步训练实验箱及常用仪器的使用方法。 二、实验设备与器件 设备:THHD-2型数字电子技术实验箱、万用表、电流表 器件:74LS00(74HC00)一片(四2输入与非门) 三、实验内容及步骤 (一)TTL与非门测试 1.验证TTL与非门逻辑功能 (1)任意选择其中一个与非门进行实验。将与非门的两个输入端分别接到两个电平开关上,输出端接到一个电平指示灯发光二极管上(电平指示灯接高电平时点亮),接通电源,操作电平开关,完成真值表。 (2)将结果填入中,并判断功能是否正确,写出逻辑表达式。 2.电压传输特性测试 按图2.4连好线路。调节电位器,使VI在0~3V之间变化,记录相应的输入电压VI和输入电压VO的值并填入表2.8,并在VO 3.直流参数的测试 (1)输出高电平VOH的测试 测试电路如图2.6所示。闭合开关,调节电位器使电流表读数为400μA,用万用表测量输出端带负载时的输出电压VOH;断开开关,用万用表测量输出端负载开路时的输出电压V′OH,将数据填入表2.9 (2)输出低电平VOL的测试 测试电路如图2.7闭合开关,调节电位器使电流表读数为8mA,用万用表测量输出端带负载时的输出电压VOL;断开开关,用万用表测量输出端负载开路时的输出电压V′OL,将数据填入表2.9中。 (3)高电平输入电流IIH 测试电路如图2.8所示。连接电路,通电后读出电流表的读数即为负载门高电平输入电流IIH,并用万用表测量此时负载门输入高电平的电压VIH,将数据填入表2.10中。 (4)低电平输入电流IIL 测试电路如图2.9所示。连接电路,通电后读出电流表的读数即为负载门低电平输入电流IIL,并用万用表测量此时负载门输入低电平的电压VIL,将数据填入表2.10中。 图2.4电压传输特性测试电路 图2.8IIH测试电路图2.9IIL测试电路 图2.8IIH测试电路图2.9IIL测试电路 四、实验数据与结果分析 表2.7与非门真值表 输入 输出 A B Y 0 0 1 0 1 1 1 1 0 1 0 1 表2.8与非门输入、输出电平关系数据表 VI(V) 0 0.3 0.6 0.9 1.0 1.1 1.2 1.3 1.6 2.0 2.5 3.0 VO(V) 4.37 4.27 4.06 3.80 3.06 1.24 0.16 0.16 0.16 0.16 0.16 0.16 表2.9VOH、VOL测试结果 参数 IOH VOH V′OH IOL VOL V′OL 实验数据 400μA 3.46 4.36 8mA 0.34 0.15 表2.10IIH、IIL测试结果 参数 IIH VIH IIL VIL 实验数据 0 4.58 0.22 0.17 1.TTL与非门逻辑功能验证:由真值表可以得到:Y=AB,与非门功能正确。 2.根据表2.8实验数据绘制得到电压传输特性曲线如下图所示: 以下是数据处理过程,应用到了MATHEMATICS6.0.具体源程序如下: a={{0,4.37},{0.3,4.27},{0.9,3.80},{1.0,3.06},{1.1, 1.24},{1.2,0.16},{1.3,0.16},{1.6,0.16},{2.0,0.16},{2.5, 0.16},{3.0,0.16}}; ListPlot[a,AxesOrigin->{0,0}, PlotStyle->{PointSize[0.01],RGBColor[0,1,0]},Joined->True, AxesLabel->{VI:V,VO:V}] 3.通过实验数据可知,测试VOH时,开关闭合时VOH的数值比开关断开时VOH的数值小;测试VOL时,开关闭合时VOL的数值与开关断开时VOL的数值大。 五、实验结论: 本次试验达到预期目的,通过本次实验,我了解了数字集成电路外形结构及外部引脚的排列规律,掌握了逻辑门电路主要特性、参数的测试方法。基本学会了查阅器件手册,而且能够更熟练地使用实验箱及常用仪器。 六、实验注意事项及经验教训 1.实验前应首先熟悉芯片的功能和引脚分布,在正确连接各引脚和接地的前提下,每次实验测量前都应验证芯片功能的正确性,以便进行后续实验。 2.实验中应选择合适的测量方式,正确选择电表和示波器进行测量能够提高实验的精度。 3.接线、拆线时必须断开电源。 4.实验设备要有良好接地。 5.实验态度要严谨认真,注意保护实验器材。 思考题解答: 1.简述VOH、VOL的名称及含义;简述IIH、IIL的名称、含义及方向。 VOH、VOL分别为逻辑门电路的输出高低电平,IIH、I 2.测试VOH时,开关

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