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门电路特性实验报告
一、实验目的
1.了解数字集成电路外形结构及外部引脚的排列规律。
2.掌握逻辑门电路主要特性、参数的测试方法。
3.学习查阅器件手册。
4.进一步训练实验箱及常用仪器的使用方法。
二、实验设备与器件
设备:THHD-2型数字电子技术实验箱、万用表、电流表
器件:74LS00(74HC00)一片(四2输入与非门)
三、实验内容及步骤
(一)TTL与非门测试
1.验证TTL与非门逻辑功能
(1)任意选择其中一个与非门进行实验。将与非门的两个输入端分别接到两个电平开关上,输出端接到一个电平指示灯发光二极管上(电平指示灯接高电平时点亮),接通电源,操作电平开关,完成真值表。
(2)将结果填入中,并判断功能是否正确,写出逻辑表达式。
2.电压传输特性测试
按图2.4连好线路。调节电位器,使VI在0~3V之间变化,记录相应的输入电压VI和输入电压VO的值并填入表2.8,并在VO
3.直流参数的测试
(1)输出高电平VOH的测试
测试电路如图2.6所示。闭合开关,调节电位器使电流表读数为400μA,用万用表测量输出端带负载时的输出电压VOH;断开开关,用万用表测量输出端负载开路时的输出电压V′OH,将数据填入表2.9
(2)输出低电平VOL的测试
测试电路如图2.7闭合开关,调节电位器使电流表读数为8mA,用万用表测量输出端带负载时的输出电压VOL;断开开关,用万用表测量输出端负载开路时的输出电压V′OL,将数据填入表2.9中。
(3)高电平输入电流IIH
测试电路如图2.8所示。连接电路,通电后读出电流表的读数即为负载门高电平输入电流IIH,并用万用表测量此时负载门输入高电平的电压VIH,将数据填入表2.10中。
(4)低电平输入电流IIL
测试电路如图2.9所示。连接电路,通电后读出电流表的读数即为负载门低电平输入电流IIL,并用万用表测量此时负载门输入低电平的电压VIL,将数据填入表2.10中。
图2.4电压传输特性测试电路
图2.8IIH测试电路图2.9IIL测试电路
图2.8IIH测试电路图2.9IIL测试电路
四、实验数据与结果分析
表2.7与非门真值表
输入
输出
A
B
Y
0
0
1
0
1
1
1
1
0
1
0
1
表2.8与非门输入、输出电平关系数据表
VI(V)
0
0.3
0.6
0.9
1.0
1.1
1.2
1.3
1.6
2.0
2.5
3.0
VO(V)
4.37
4.27
4.06
3.80
3.06
1.24
0.16
0.16
0.16
0.16
0.16
0.16
表2.9VOH、VOL测试结果
参数
IOH
VOH
V′OH
IOL
VOL
V′OL
实验数据
400μA
3.46
4.36
8mA
0.34
0.15
表2.10IIH、IIL测试结果
参数
IIH
VIH
IIL
VIL
实验数据
0
4.58
0.22
0.17
1.TTL与非门逻辑功能验证:由真值表可以得到:Y=AB,与非门功能正确。
2.根据表2.8实验数据绘制得到电压传输特性曲线如下图所示:
以下是数据处理过程,应用到了MATHEMATICS6.0.具体源程序如下:
a={{0,4.37},{0.3,4.27},{0.9,3.80},{1.0,3.06},{1.1,
1.24},{1.2,0.16},{1.3,0.16},{1.6,0.16},{2.0,0.16},{2.5,
0.16},{3.0,0.16}};
ListPlot[a,AxesOrigin->{0,0},
PlotStyle->{PointSize[0.01],RGBColor[0,1,0]},Joined->True,
AxesLabel->{VI:V,VO:V}]
3.通过实验数据可知,测试VOH时,开关闭合时VOH的数值比开关断开时VOH的数值小;测试VOL时,开关闭合时VOL的数值与开关断开时VOL的数值大。
五、实验结论:
本次试验达到预期目的,通过本次实验,我了解了数字集成电路外形结构及外部引脚的排列规律,掌握了逻辑门电路主要特性、参数的测试方法。基本学会了查阅器件手册,而且能够更熟练地使用实验箱及常用仪器。
六、实验注意事项及经验教训
1.实验前应首先熟悉芯片的功能和引脚分布,在正确连接各引脚和接地的前提下,每次实验测量前都应验证芯片功能的正确性,以便进行后续实验。
2.实验中应选择合适的测量方式,正确选择电表和示波器进行测量能够提高实验的精度。
3.接线、拆线时必须断开电源。
4.实验设备要有良好接地。
5.实验态度要严谨认真,注意保护实验器材。
思考题解答:
1.简述VOH、VOL的名称及含义;简述IIH、IIL的名称、含义及方向。
VOH、VOL分别为逻辑门电路的输出高低电平,IIH、I
2.测试VOH时,开关
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