可靠性试验的分类.pptxVIP

第四章 元器件可靠性试验与评价技术4.1 元器件可靠性试验定义： 目前把测定、验证、评价和分析等为提高元器件可靠性而进行的各种试验，统称为可靠性试验。应用于： 研制阶段：暴露设计、材料、工艺阶段存在的问题和有关数据，对设计者、生产者和使用者非常有用； 设计定型阶段：是否达到预定的可靠性指标； 生产阶段：评价元器件生产工艺和过程是否稳定可控；使用阶段： 了解不同工作、环境条件下的失效规律、失效模式、失效机理，以便进行纠正和预防，提高元器件的可靠性。 可靠性试验的分类 试验项目可靠性试验方法的标准及检索方法相关标准 中国国家标准GB 中国国家军用标准GJB 日本工业标准 日本电子机械工业协会标准 国际电工委员会标准IEC 英国标准BS 美国军用标准MIL 美国电子器件工程联合会标准JEDEC 俄罗斯国家标准检索方法：图书情报/中文数据库/万方数据资源系统万方数据资源系统/中外标准/电子元器件与信息技术/高级检索高级检索4.2 可靠性基础试验 组成各种可靠性试验的最基本的试验单元叫做可靠性基础试验 类型(P71 表4-3): 电应力+热应力试验 气候环境应力试验 机械环境应力试验 与封装有关的试验 与引线有关的试验 与标志、标识有关的试验 特殊试验 辐射应力试验特殊试验声学扫描显微分析(SAM) 原理：超声波在介质中传输时，若遇不同密度或弹性系数的物质，会产生反射回波，其强度因材料密度不同而有所变化。在有空洞、裂缝、不良粘接和分层剥离的位置产生高的衬度，因而容易从背景中区分出来。 用途： 检测电子元器件、材料及PCB/PCBA内部的各种缺陷(如裂纹、分层、夹杂物、附着物及空洞等)扫描电子显微镜分析： 用途： 金属化层和键合质量缺陷，电迁移、层间短路、硅片的层错和位错等 原理：SEM的结构原理4.3 可靠性寿命试验 4.3.1 定义和分类: 为评价元器件产品寿命特征值而进行的试验 结束方式：定时试验 定数试验 试验时间： 长期寿命试验 贮存寿命：3~5年 工作寿命：240h?? 加速寿命试验 4.3.2 指数分布寿命试验方案的确定:经工艺筛选剔除早期失效后,元器件的失效分布已进入偶然失效期,其寿命分布接近指数分布,或威布尔分布；当威布尔分布的形状参数m接近于1时，威布尔分布可以用指数分布来近似。指数分布指数分布的定义指数分布的密度函数为 (3-4)式中?为常数，是指数分布的失效率。指数分布的分布函数F(x)=1-e-?x (3-5)＿＿若产品在一定时间区间内的失效数服从泊松分布，则该产品的寿命服从指数分布。 泊松(Poisson)分布泊松分布： (3-3)泊松分布的数字特征为：E(X)=?，D(X)=?。在泊松分布中，令失效数k=0，有泊松随机过程的概率密度分布 威布尔(Weibull)分布Weibull采用“链式”模型研究、描述了结构强度和寿命问题，假设一个结构是由 n 个小元件串联而成，将结构看成是由 n 个环构成的一条链子，其强度（或寿命）取决于最薄弱环的强度（或寿命）。单个链的强度（或寿命）为一随机变量，设各环强度（或寿命）相互独立，分布相同，则求链强度（或寿命）的概率分布就变成求极小值分布问题，由此得出了威布尔分布函数。由于威布尔分布是根据最弱环节模型或串联模型得到的，能充分反映材料缺陷等因素对材料疲劳寿命的影响，所以作为材料或零件的寿命分布模型或给定寿命下的疲劳强度模型比较合适。三参数威布尔分布的密度函数为 (3-13)威布尔分布的均值 (3-14)威布尔分布的方差 (3-15)如果?<1，那么威布尔分布的均值将大于? 。如果? ＝1，威布尔分布的均值等于?。如果? >1，威布尔分布的均值小于?，且随着x的减小接近于?。随着增长到无穷，威布尔分布的方差减小，且无限接近于0。威布尔可靠性函数是： （3-16）1. 抽样方法和数量 特点：样品数量大，试验时间短，试验结果精确，但测试工作量大，试验成本高。 统筹考虑。2. 试验应力类型和应力水平 原则： 关于类型：选择对元器件失效影响最显著或最敏感的应力类型，且这些应力所激发的失效机理应与实际使用状态的失效机理相同。 关于应力水平：应选择元器件的技术标准规定的额定值。3. 试验周期的确定 自动监测、连续测试 间歇监测与记录 相隔一定时间(测试周期)进行一次测试基本原则：不要使元器件失效过于集中在一、两个测试周期内，最好有5个以上能测试到失效元器件的测试点，每个测试点上测试到的失效元器件数应大致相同。根据失效进程的快慢、失效分布特点确定合适的测试周期，不一定是等距，可进行调整，例如指数分布时可取初期短，后期长的方案。4. 试验截止时间—截尾试验—不得中途变动 低应力寿命试验：定时截尾(取平均寿命的1.6倍以上的时间) 高应力寿命试验：定数截尾(累积失效数或概率达到规定