GB/T 17473.2-2008微电子技术用贵金属浆料测试方法　细度测定.pdf

犐犆犛７７．１２０．９９ 犎 ６８ 中华人 民共和 国国家 标准 ／ — 犌犅犜１７４７３．２ ２００８ 代替 ／ — ＧＢＴ１７４７３．２ １９９８ 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细 度 测 定 — 犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊狅犳狉犲犮犻狅狌狊犿犲狋犪犾狊 犪狊狋犲狊狌狊犲犱犳狅狉犿犻犮狉狅犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狊 狆 狆 犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳犳犻狀犲狀犲狊狊 ２００８０３３１发布 ２００８０９０１实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 ／ — 犌犅犜１７４７３．２ ２００８ 前 言 　　 本标准是对 ／ — 《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》（所有部分）的整合修 ＧＢＴ１７４７３ １９９８ 　　 订，分为 个部分： ７ ——— ／ — 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定； ＧＢＴ１７４７３．１ ２００８ 　 　 ——— ／ — 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定； ＧＢＴ１７４７３．２ ２００８ 　 　 ——— ／ — 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定； ＧＢＴ１７４７３．３ ２００８ 　 　 ——— ／ — 微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测试； ＧＢＴ１７４７３．４ ２００８ 　 　 ——— ／ — 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定； ＧＢＴ１７４７３．５ ２００８ 　 　 ——— ／ — 微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定； ＧＢＴ１７４７３．６ ２００８ 　 　 ——— ／ — 微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性测定。