统计製程管制(SPC)讲述.pptx

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統計製程管制(SPC)顧問師深圳方之见顾问課程內容控制圖歷史說明控制圖說明控制圖原理說明控制圖種類及選擇說明正態分佈說明α,β風險說明普通原因、特殊原因說明使用控制圖注意事項X-R,X-S,X-R,X-Rm控制圖P, np, c, u控制圖Ca, Cp, Cpk, Pp, Ppk, Cmk指數說明什麼是MOTOROLA的6σ控制圖的判讀Case study控制圖的歷史控制圖是1924年由美國品管大師W.A. Shewhart博士發明。因其用法簡簡單且效果顯著,人人能用,到處可用,遂成為實施品質管制時不可缺少的主要工具,當時稱為(Statistical Quality Control)。控制圖在英國及日本的歷史英國在1932年,邀請W.A. Shewhart博士到倫敦,主講統計品質管制,而提高了英國人將統計方法應用到工業方面之氣氛。就控制圖在工廠中實施來說,英國比美國為早。日本在1950年由W.E. Deming博士引到日本。同年日本規格協會成立了品質管制委員會,制定了相關的JIS標准QS9000的出现定位了SPC的地位;測量PROCESS結果原料SPC&SQC过程大于产品針對過程的重要控制參數所做的才是SPCReal Time Response針對產品所做的仍只是在做SQCSPC是过程参数的监控:有的是自带(如模具的温度、电流、电压的指数等)人機法測量環好測量PROCESS結果原料不好强调预防的重要:ISO900094版纠正与预防在一起而2000版要求纠正与预防公开預防或容忍?不要等產品做出來後再去看它好不好而是在製造的時候就要把它製造好利用控制限區隔是否為非機遇性控制圖的目的管制和一般的統計圖不同,因其不僅能將數值以曲線表示出來,以觀其變異之趨勢,且能顯示變異係屬於機遇性或非機遇性(台湾称为机遇性、中国称为随机性),以指示某種現象是否正常,而採取適當之措施。控制圖種類(以數據來分)計量值控制圖平均值與全距控制圖平均值與標準差控制圖中位值與全距控制圖個別值與移動全距控制圖計數值控制圖不良率控制圖不良數控制圖缺點數控制圖單位缺點控制圖控制圖的選定計量值計數值資料性質n≧1不良數缺陷數樣本大小n≧2不良數或缺陷數“n”=1平均值Cl的性質一定不一定“n”是否一定單位大小是否一定“n”=10~25“n”是否較大中位數不一定“n”=2~5一定X-s圖X-R圖X-R圖X-Rm圖“p”圖“np”圖“c”圖“u”圖控制圖的選擇搜集數據繪解析用控制圖是否穩定尋找異常原因繪直方圖是否滿足規格檢討機械、設備提升製程能力控制用控制圖控制圖的繪製流程解析用穩定控制用控制圖種類(依用途來分)管制用控制圖追查不正常原因迅速消除此項原因並且研究採取防止此項原因重複發生之措施。解析用控制圖決定方針用製程解析用製程能力研究用製程管制準備用为什么是这样的图形;生产和实践的结合;实际与理论的差异計量值的分佈表達位置:中心值形狀:峰態分佈寬度抽樣μμ+k σμ-k σ无论σ如何变化(只要符合正态布)当K一定,对任何过程积分的结果都是恒定:当K为无穷大时,积分结果为1,但产品的公差不可能为无穷大控制圖原理說明群體平均值=μ標准差=σ控制圖原理μ±kσ在內的概率在外的概率μ±0.67σ50.00%50.00%μ±1σ68.26%31.74%μ±1.96σ95.00%5.00%μ±2σ95.45%4.55%μ±2.58σ99.00%1.00%μ±3σ99.73%0.27%99.73%95.45%68.26%-3σ-2σ-1σ+1σ+2σ+3σμ正態分佈概率中央極限定理有限群體修正係數控制圖原理說明個別值的正態分佈平均值的正態分佈 旋 转 90 度控制圖的正態分佈管制界限和規格界限規格界限:是用以說明品質特性之最大許可值,來保證各個單位產品之正確性能。管制界限:應用於一群單位產品集體之量度,這種量度是從一群中各個單位產品所得之觀測值所計算出來者。材料機器人環境測量方法製程的組成以及其波動的原因波動原因過程控制和過程能力控制滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類簡言之,首先應通過檢查並消除變差的特殊原因使過程處於受統計控制狀態,那麼其性能是可預測的,就可評定滿足顧客期望的能力。“α”風險說明“β”風險說明“α”及“β”風險說明“α”及“β”風險說明控制界限“α”值±σ32%±2σ4.56%±3σ0.27%±4σ0.005%平均值移動“β”值±σ97.72%±2σ84.13%±3σ50%±4σ15.87%兩種損失的合計第二種錯誤損失第一種錯誤損失0σ1σ2σ3σ6σ控制圖設計原理控制圖兩種錯誤的分析對于僅僅存在偶然因素的情況下, 由于點子越出控制界限外而判斷過程發生變化的錯誤, 即將正常判斷為異常的錯誤是可能發生的. 這種錯誤稱為第一種錯誤. 當過程具有某種非偶然因素

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