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通讯产品电路设计中的电磁波辐射和辐射抗扰性问题研究
1 引言
随着科学技术的飞速发展, 作为高科技产品的代表之一——通讯产品, 其发展速度日新
月异, 从传统的传送单纯话音的窄带业务到传送话音、 数据和视频等的综合宽带业务, 对信
号传输质量和传输速度的要求也越来越高, 这就不可避免地给通讯产品带来了许多电磁兼容
性( EMC )问题,特别是通讯产品的电磁波辐射和辐射抗扰性问题百表现尤为突出。
通过对本公司通讯产品的电磁波辐射和辐射抗扰性问题进行详细地分析, 在通讯产品的
电路设计阶段总结出一系列解决此类问题的方法,下面逐一进行详细论述。
2 差模辐射和共模辐射
要想解决电路中的电磁波辐射和辐射抗扰性问题, 首先应了解辐射的机理, 在通讯产品
中,通常辐射的根源在其数字电路部分, 而数字电路的辐射按其方式可分为差模辐射和共模
辐射。
差模辐射是由于电流流过电路中的导线环路造成的,如图 1 所示。这些环路相当于正
在工作的小天线,向空间辐射磁场。
辐射波
印制板
I
图 1 印制板的差模辐射
差模辐射用小环天线产生的辐射来模拟时,设电流为 I ,面积为 S 的小环,在自由空
间为 r 的远场,测得的电场为:
16 2
E 131.6 10 ( f SI )(1/ r ) sin (式1)
其中 E ——电场 (V / m) f ——频率 ( Hz )
2
S ——面积 (m ) I ——电流 (A )
r ——距离 (m) ——测量天线与辐射平面的夹角 ( )
式 1 适用于放置在自由空间且表面无反射的小环, 通讯产品在进行测试时并非处于自由
空间,而是在地面上进行的,附加的地面反射会使测得的辐射增加 6dB 。因此,考虑到这一
因素,式 1 必须乘上系数 2 。如果对地面反射作出修正并假设为最大辐射方向,则式 1 可改
写为:
16 2
E 263 10 ( f SI)(1/ r ) (式2 )
由式 2 可以看出,差模辐射与环路电流和环面积成正比,与电流频率的平方成正比。
共模辐射是由于电路中存在不希望的电压降造成的, 此电压降使系统中某些部分处于高
电位的共模电压, 当外部电缆与系统连接时, 外部电缆在共模电压的作用下被激励, 形成辐
射电场的天线,如图 2 所示。
I/O 电缆
I 共模
V 共模
地线
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