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电子元器件的降额应用和“二次”筛选
前言
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元器件的应用就是指元器件使用的方法。除了要求元器件本身具有相应等级的固有可靠性外,使用是否合理,即使用的方法也直接影响其实际(或现场)可靠性。
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据有关资料和资深专家分析,应用中所发生的电子元器件的失效,一半与元器件生产、制造有关,而近乎另一半则是由于使用不当或保管、传输不当所引起的损伤失效。如此大的损伤(或叫人为失效),引起国内外有关人士的高度重视,已着手探讨消除的办法,以保证电子元器件的正确使用。由于这方面的问题牵涉面广,在此不可能一一进行讨论。本文只从降额应用和“二次”筛选等几个方面浅谈一些体会和经验,希望能对从事相关工作的人员有所帮助和借鉴。
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元器件的降额应用
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各种元器件都有其设计的额定值。譬如,电容器的耐压,电阻器的功率,半导体器件的电压、电流等等。所谓额定值是指元器件设计上所允许承受的最大应力值,一般是指在一定的环境温度下和一定的时间范围内,器件能承受该应力而不致失效的能力。器件在实际使用中,为了“保险”,不应较长时间处在额定状态,而应视其应用场合的重要性或关键性“远离”这种状态,这就是降额使用。降额使用可使元器件的可靠性增长,延长器件的寿命,并使电子产品质量受益。
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根据国家和行业有关标准,电子元器件的降额系数一般可在0.5~0.9之间,按照要求的降额等级来选取.有的元件,如继电器的某些参数的降额系数甚至要取0.4以下甚至更小。
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在对电子产品所用元器件进行降额设计时,实际工作中可能遇到如下问题,有必要作以讨论。
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降额不足
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由于在元器件的选取上往往存在一定困难,经验不足的设计人员有时做出不周全的考虑。应该指出,有关降额标准上给出的降额因子只是常温应用下的数值,对于处于特定高温条件下的某些器件,如钽电容器等,则还应考虑其因温度效应而引起的降额。
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例如,对一个如下图所示、末端为三端稳压器W78M12的电源输出,对其前后所加的固钽滤波电容器C1和C2,在降额要求上就有些不同。粗心的设计者,简单地选取25V150μF,认为降额足够,不会发生问题。实际情况是,当产品进行高温(70℃±2℃)测试时,常常发生C1击穿失效。仔细核算发现,C1位置所用25V耐压的电解电容器其降额使用存在问题。
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因为考虑到三端稳压器的压差问题,设计者将输入电压提高到18V(实际甚或达到了近20V),其常温下的降额系数为:
n=20V(使用值)/25V(额定值)=0.8?
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但实测环境温度为70℃时,其机内温度已达90℃以上,此时,电解电容器的高温漏电流便会明显上升,其耐压的温度降额已不容忽视。如果温度耐压降额也取0.8,则:
U′额定=25×0.8=20(V)?
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此时该电容器的实际降额系数为:
n′=20/20=1?
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这便是一种危险的使用状态。还没有考虑电源整流的波形脉动因素,如果加进波动和其它杂波尖峰,就势必引起C1位置滤波电容器的击穿。
认识到上述情况后,将C1电容器更换为35V?
100μF,高温试验时,C1易失效的现象便消失了。
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降额过大
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使用中不加计算的过度降额也不可取。过度降额,即实际使用的应力条件大大小于器件的额定值。这一方面增大了器件的体积和成本,给产品设计、结构带来困难,另一方面对器件的可靠性提高也是很有限的。甚至有专家认为,过度降额,使器件处于甚低的应力水平,近似“休闲”状态,反而可能带来负面影响。实际上,处于非工作状态下的器件,有时反比正常使用状态下的器件有着较高的失效比率。
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用降额补偿低质量元器件的使用
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当元器件的失效率高,不能满足使用的高可靠性要求时,切忌以降额使用来补偿。质量水平较低的元器件,因其固有质量低劣,即便大幅度地降额使用,仍然有着较多的失效,导致大量的维修更换,更不合算。尤其是对重要用途的产品,如航天、航空、航海、空间应用、军事应用等领域更会带来灾难性的严重后果。
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据重要工程所作的电子元器件和破坏性物理分析(DPA)报道,不同质量等级的元器件,其DPA结果相差甚大。国产国军标级器件的DPA不合格率约为4.5%,而一般工业级器件则高达30%以上,因而元器件使用中选用合适的质量等级是一个很重要的问题。
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元器件的“二次”筛选
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对元器件进行筛选的目的是为了剔除那些在生产制造过程中因材料或工艺上的不完善而存在缺陷的部分早期失效产品。通常是施加较大的温度、电、力学应力,加速有缺陷产品的淘汰,从而减少器件在使用中的失效比率,提高批产品的可靠性。但是,筛选只是作挑选,并不能提高筛选出的合格器件的固有可靠性。如果弄得不好,条件失控,应力过度具有破坏性,反而会降低器件固有的可靠性。
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筛选工作一般是在器件生产的一定阶段,按照一定的顺序进行的,其“顺序”往往是不能颠倒的。例如,电应力筛选不能放在机械、环境应力筛选之
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