第四章 超声波探伤方法和通用探伤技术.pdf

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第四章 超声波探伤方法和通用探伤技术 By adan 第四章 超声波探伤方法和通用探伤技术 超声波探伤方法虽然很多,各种方法的操作也不尽相同,但它们在探测条件、耦合与补偿、仪器的调节,缺陷的定位、定量、定性 等方面却存在一些通用的技术同题,掌握这些通用技术对于发现缺陷并正确评价是很重要的。 第一节 超声波探伤方法概述 一、按原理分类 超声波探伤方法按原理分类,可分为脉冲反射法、穿透法和共振法。 1.脉冲反射法 超声波探头发射脉冲波到被检试件内,根据反射波的情况来检测试件缺陷的方法,称为脉冲反射法。脉冲反射法包括缺陷回波法、 底波高度法和多次底波法。 (1)缺陷回法:根据仪器示波屏上显示的缺陷波形进行判断的方法,称为缺陷回波法,该方法是反射法的基本方法。 图4.l 是缺陷回波探伤法的基本原理;当试件完好时,超声波可顺利传播到达底面,探伤图形中只有表示发射脉冲T 及底面回波B 两个信号,如图4.1(a)所示。 若试件中存中缺陷,在探伤图形中,底面回波前有表示缺陷的回波F 如图4.1(b)所示。 (2)底波高度法:当试件的材质和厚度不变时,底面回波高度应是基本不变的。如果试件内存在缺陷,底面回波高度会下降甚至消 失,如图4.2 所示。 这种依据底面回波的高度变化判断试件缺陷情况的探伤方法,称为底波高度法。 底波高度法的特点在于同样投影大小的缺陷可以得到同样的指示,而且不出现盲区,但是要求被探试件的探测面与底面平行,耦合 条件一致。由于该方法检出缺陷定位定量不便,灵敏度较低,因此,实用中很少作为一种独立的探伤方法,而经常作为一种辅助手段,配 合缺陷回波法发现某些倾斜的和小而密集的缺陷。 (3)多次底波法:当透入试件的超声波能量较大,而试件厚度较小时,超声波可在探测面与底面之间往复传播多次,示波屏上出现 多次底波B1、B2、B3……。如果试件存在缺陷,则由于缺陷的反射以及散射而增加了声能的损耗,底面回波次数减少,同时也打乱了各次 底面回波高度依次衰减的规律,并显示出缺陷回波,如图4.3 所示。这种依据底面回波次数。而判断试件有无缺陷的方法,即为多次底波 法。 多次底波法主要用于厚度不大、形状简单、探测面与底面平行的试件探伤,缺陷检出的灵敏度低于缺陷回波法。 2.穿透法 穿透法是依据脉冲波或连续波穿透试件之 后的能量变化来判断缺陷情况的一种方法,如 图4.4 所示。 穿透法常采用两个探头,一个作发射用,一 个作接收用,分别放置在试件的两侧进行探测, 图4。4(a)为无缺陷时的波形,图4.4(b)为有缺 陷时的波形。 3.共振法 若声波(频率可凋的连续波)在被检工件内传播,当试件的厚度为超声波的半波长的整数 倍时,将引起共振,仪器显示出共振频率,用相邻的两个共振频率之差。由以下公式算出试件厚度。 (4.1) 式中 f0——工件的固有频率; fn、fn-1——相邻两共振频率; C——被检试件的声速; λ ——波长; σ ——试件厚度。 当试件内存在缺陷或工件厚度发生变化时,将改变试件的共振频率。依据试件的共振特 性,来判断缺陷情况和工件厚度变化情况的方法称为共振法。共振法常用于试件测厚。 二、按波形分类 根据探伤采用的波形,可分为纵波法、横波法、表面波法、板波法、爬波法等。 1.纵波法 使用直探头发射纵波,进行探伤的方法,称为纵波法。此法波束垂直入射至试件探测面,以不变的波型和方向透入试件,所以又称为 垂直入射法。简称垂直法,如图4.5 所示。 垂直法分为单晶探头反射法、双晶探头反射法和穿透法。常用的是单晶探头反射法。 垂直法主要用于铸造、锻压、轧材及其制品的探伤,该法对与探测面平行的缺陷检出效果最佳。由于盲区和分辨力的限制,其中反 射法只能发现试件内部离探测面一定距离以外的缺陷。 在同一介质中传播时,纵波速度大于其它波型的速度,穿透能力强,晶界反射或散射的敏感性较差,所以可探测工件的厚度是所有 波型中最大的,而且可用于粗晶材料的探伤。 由于垂直法探伤时,波型和传播方向不

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