测试电路及显示面板的制作方法.docxVIP

PAGE PAGE 1 测试电路及显示面板的制作方法 1.本发明涉及一种测试电路及显示面板，尤其涉及一种兼具测试功能与静电防护功能的测试电路及显示面板。背景技术：2.随着电子装置的迅速进展，显示面板的应用越来越普及。显示面板的下边框(down border)为周边区域，其上可设置测试电路，测试电路用于控制数据信号输入至对应的数据线以举行画面检测。实际操作中，显示面板的下边框上具有多而密的电路设计，除了测试电路之外，还有例如多工器电路(mux)、数据线扇出区(data fan?out)等，这些线路中金属层交叉复杂，极简单被静电炸伤(esd)。以数据线扇出区举例来说，其为用于向显示面板的显示区传输数据信号的重要功能块之一，假如受到静电的干扰而被炸伤，则会导致显示面板的画面显示异样，如垂直线缺陷(v?line)等。故需要设计静电防护电路来对下边框上的电路加以庇护，但目前用法者对于显示面板的边框宽度要求越来越高，例如窄边框甚至无边框。若单独设置静电防护电路，则会影响下边框的整体宽度。技术实现要素：3.本发明的目的在于提供一种测试电路及显示面板，以解决上述问题。4.为了达到上述目的，本发明提供一种测试电路，应用于显示面板，该显示面板具有第一基板，该第一基板具有相邻的显示区及周边区，该显示区设置有多条数据线，该测试电路设置于该周边区，该测试电路包含多个开关单元、第一输入端及其次输入端。多个开关单元与该多条数据线一一对应衔接，每一开关单元包含第一开关模块及其次开关模块，该第一开关模块具有第一控制端、第一端及其次端，该第一控制端与该第一端衔接，该其次端衔接至对应的数据线；该其次开关模块具有其次控制端、第三端及第四端，该其次控制端与该第三端衔接并衔接至该第一开关模块的该其次端；第一输入端衔接至该第一开关模块的该第一端；其次输入端衔接至该其次开关模块的该第四端。于测试阶段，该第一输入端及该其次输入端接收测试信号以举行测试；于静电防护阶段，该第一输入端接收第一电压信号，该其次输入端接收其次电压信号，该第一电压信号小于该其次电压信号；对应衔接的数据线具有超过第一预设值的第一正电压时，该其次开关模块打开，该第一正电压自该其次输入端泄流；对应衔接的数据线具有小于其次预设值的第一负电压时，该第一开关模块打开，该第一负电压自该第一输入端泄流。5.作为可选的技术计划，该测试阶段包含正半周测试阶段，于该正半周测试阶段，该测试信号包含第一正测试电压及其次正测试电压，该第一正测试电压小于等于该其次正测试电压，该第一输入端接收该第一正测试电压，使得该第一开关模块打开，该第一正测试电压被传递至对应的数据线以充电至正电压；该其次输入端接收该其次正测试电压，使得该其次开关模块关闭。6.作为可选的技术计划，该测试阶段包含负半周测试阶段，于该负半周测试阶段，该测试信号包含第一负测试电压及其次负测试电压，该第一负测试电压小于等于该其次负测试电压，该第一输入端接收该第一负测试电压，使得该第一开关模块关闭；该其次输入端接收该其次负测试电压，使得该其次开关模块打开，对应的数据线经由该其次开关模块泄流至负电压。7.作为可选的技术计划，该第一开关模块为第一晶体管，该第一晶体管的栅极端为该第一控制端，该第一晶体管的源极端、漏极端的其中之一为该第一端，该第一晶体管的源极端、漏极端的其中另一为该其次端；该其次开关模块为其次晶体管，该其次晶体管的栅极端为该其次控制端，该其次晶体管的源极端、漏极端的其中之一为该第三端，该其次晶体管的源极端、漏极端的其中另一为该第四端。8.作为可选的技术计划，于该静电防护阶段，该第一电压信号为低电位信号，该其次电压信号为高电位信号。9.作为可选的技术计划，该第一预设值大于该高电位信号；该其次预设值小于该低电位信号。10.作为可选的技术计划，该测试电路还包含第一信号线及其次信号线，该第一输入端经由该第一信号线衔接至每一开关单元的该第一端；该其次输入端经由该其次信号线衔接至每一开关单元的该第四端。11.此外，本发明还提出一种显示面板，其包含前述测试电路。12.作为可选的技术计划，该周边区还包含驱动芯片绑定区，该测试电路于该第一基板上的垂直投影位于该驱动芯片绑定区内。13.作为可选的技术计划，该周边区还包含扇出区及覆晶薄膜电路板绑定区，该测试电路设置于该扇出区与该覆晶薄膜电路板绑定区之间。14.本发明的测试电路及显示面板，能够在显示面板的制作过程中正常提供测试功能，并在显示面板正常用法时，可帮助举行静电防护，避开数据线上存在过大的正电压或负电压导致其他线路(例如数据线扇出区)受到静电干扰而被炸伤，提升了线路的稳定性。本发明不需要额外设置静电防护电路，从而不会对周边区的宽度造成较大影响，迎合了窄边框的