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南京大学现代分析中心仪器设备一览表(更新)
联系电话:025 -
仪器名称
型号
制造丿商
主要技术指标
主要用途
购置
日期
校内收费
备
注
扫描电子显微镜
(SEM)
S-3400N II
日本
日立公司
放大倍数:5~30万倍;
二次电子分辨率: 3 nm在30 kV
下(高真空模式);
背散射电子分辨率:4 nm在30
kV下(低真空模式)
形貌观察
成份分析
形貌或兀素成
份:100元/
个
透射电子显微镜
(TEM)
JEM-2100
(HR
日本
JEOL公司
点分辨率:
晶格分辨率:
放大倍数:50 - 1500000
样品台:侧插式
可对固体的内部微 结构和电子衍射进 行分析,主要用于 金属、纳米材料、 生物、矿物样品的 研究
常规:
100元/个
高分辨测试:
200元/个
X射线衍射仪
(XRD)
X TRA
瑞士
ARL公 司
输出功率:
测角范围(20): o ~135o ;
晶体结构分析,物
相鉴定(物相定
图谱:
50元/个
v1.0可编辑可修改
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测角准确性 o ; 测角重复性 o ; 测角复现性 o ; 分辨率(半高宽)W o
性、定量分析), 结晶度测定以及相 变分析等。
物相分析:
150元/个
四圆单晶X射线衍
射仪
CAD4/PC
荷兰Enraf
Noius公司
四圆同心度10卩m
各圆角度读数精确度优于
各圆角度测量重复度优于
测定晶体分子的三 维空间结构,进行 单晶晶体结构解析, 适用于能形成单晶 的物质
升级
400元/个
X射线荧光光谱仪
(XRFS)
ARL9800XP
瑞士
ARL公 司
X光管功率:KW;
电压:60 KV (取大);
电流:140 mA (最大);
稳定性:%
地质、地理海洋、 环保监测、工业与 化工产品、电子材 料、金属材料及原 材料等样品元素含 量的常量微量检测
半定量:
80元/个
普通硅酸盐:
120-250 元 /
个
无标样矿物测
试:400-600
元/个
电子顺磁共振波谱
EMX- 10/12
德国
磁场强度:最高(磁极距
检测样品中含不成
室温常规:40
仪(EPR)
Bruker公司
72mm ,最高(磁极距50mm)
频段:X波段及Q波段
对电子的波谱学方
法,提供物质结构
信息
升级
元/样
室温扫描5次 测量或低温或 常温光照测
量:60元/样
灵敏度:X
分辨率:V
101% B自旋
-6
2 X 10 T
激光拉曼光谱仪
JY HR800
法国
光谱范围:
200 ~ 1000 nm ;
无机化合物和有机
常温:
(LRS)
JOBIN
YVON
最低频率:
30 cm-1 ;
化合物的结构鉴
50元/个
公司
分辨率:1 cm-1 (在 546 nm,
1800 gr/mm );
定,表面吸附研
究,鉴定高聚物的
变温测量根据
空间分辨率
1卩m (在XY平
结构和几何构型
不冋要求而疋
面);2卩
m (在Z平面)
傅里叶变换红外光
NEXUS870
美国 NICOLET
光谱范围(近中远红外):
由物质的红外光谱
谱图:
谱仪(FTIR)
公司
-1
11,000~20 cm ;
识别其含有的化学
20元一50元/
分辨率:cm-1;
结构官能团,从而
个
波数精度:
-1
cm ;
确定化合物的类型
单组分定性:
透光精度:
% T;
和结构,根据官能
20 0元/个
信噪比(峰
-峰值,1分钟测
团在某一区域的特
试):33,000:1
征吸收带的强弱可
进行光谱定量分析
兀素分析仪
(EA)
Vario MICRO
德国
Elementar 公
司
样品分解温度:950~1200C ;可 分析兀素:C、H、N、S、O 测量误差:C、H、NW % S、 g%
进行有机和部分无 机化合物C、H、N
S、O元素的定量分 析,用于化合物分 子结构的鉴定、确 认和化学成分分析
固体样C
H、N含量:
50元/个
C、H N S 含量:100元
/个
S含量:100
元/个
O含量:150
元/个
执
八、、
分
析
示差扫描量
热仪(DSC)
Pyris 1 DSC
美国
PE公司
温度范围:-170~7 25°C;灵敏
度:卩W扫描速率:~500oC/min
测量样品热焓、质 量、温度和动态力 学性质在程控温度 下的连续变化,适 用于研究材料和体 系的性质、成分、 结构、相变和化学
单次常规扫
描:60元/个
单次低温扫
描:80元/个
热失重(TGA)
Pyris 1 TGA
美国
PE公司
温度范围:室温~900°C;灵敏
度:卩W扫描速率:
~500oC/min
60元
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