基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测.docx

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2022-07-03 发布于河北
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基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测.docx

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1 引言半导体器件作为现代电子设备的关键零部件，被广泛应用于军工、通信、自动化和航空等领域，其健康状况直接影响着设备的运行性能和运行精度.传统的依照可靠性手册对半导体器件进行评估鉴定，是基于“正常”和“失效”的二元判定，已经不能满足当前发展对寿命评估的要求，开展半导体器件的故障预测和健康管理（Prognostic and Health Management， PHM）研究、建立产品使用寿命与故障机理之间的关系是十分必要的. 国内外主要从故障诊断［1，2］、状态评估［3~5］和寿命预测［6~9］三个方面开展PHM技术研究，取得了较好的成果.考虑到现有研究方法主要集中于对单一监测变量进行分析，且