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PAGE 1 PAGE 1 基于PXI平台的下一代半导体ATE解决方案 半导体测试行业现状  电子行业正处于不断的压力下必需降低其制造成本。上市时间给半导体制造商很大的压力，在新产品投入市场后的很短时间内，利润是的，随后，由于竞争者开发了类似底价产品，利润水平开头下降。开发一个有效的节约费用的测试程序往往是阻碍新产品投入批量生产的瓶颈。  对于半导体供应商来说，其中测试成本始终被视为没有“增值”的成本。如图1所示，资本成本占IC平均销售价格(ASP)的百分比渐渐变小-从2022年的5%上升到2022年的约1%。然而，整体器件的ASP也在削减，意味着在成本方面，测试成本需要以与器件ASAP的削减相同或更大的速率降低，这使得测试工程师面临更大的压力以找到更具成本效益的测试解决方案。   实际状况是，通过采纳诸如并行测试(也叫多点测试)等技术来提高传统或“big”测试系统利用率，只会在测试费用方面产生有限的改进，而不真正解决测试系统成本的问题。对于开发试验室，故障分析试验室或小批量生产的测试需求，多站点测试策略不会提高测试的经济性。  当今的半导体器件包括各种数字，存储器，模拟，混合信号和RF模块等，全部这些都集成在单个封装或SoC(systemonchip，系统芯片)中。结果是，测试解决方案不仅必需是成本有效的，而且必需敏捷以便解决包括规律，存储器，模拟，MEM和RF模块的一系列电路类型的测试需求。测试解决方案要能够为工程师供应成本有效的自动化设计验证，故障分析和试生产测试活动的力量，而无需使用昂贵的“big”。  今日的测试工程师面临的挑战是创建新的测试方法和系统，可以显著的降低测试成本，以及解决可配置，敏捷的测试解决方案的需求。基于(CompactPCIExtensionsforInstrumentation)数字，模拟和射频测试产品和系统的进展使测试工程师能够利用平台满意一系列ATE设备的测试需求。特殊是，数字产品中供应每引脚具备参数测量单元(PMU)功能，现在供应具有高价值和性能的ATE半导体测试功能。此外，PXI测试系统为测试工程师供应了经济高效的ATE，可用于故障分析，原型设备验证和试验/早期生产运行-允许“bigiron”ATE专注于批量生产测试应用程序，同时在紧凑和可配置的平台中供应工程测试功能。  半导体测试要求  数字和混合信号器件的基本测试需求包括直流参数测试和功能测试。对于DC测试，必需表征器件的引脚，需要一个PMU(参数测量单元)。假如使用单个PMU，需要通过多路复用开关能够访问的全部器件的引脚，以实现激励电压/测量电流或激励电流/测量电压。一旦DC参数测试完成，就可以执行器件的功能测试。在这种状况下，具有足够深的存储器，每通道可编程性(电压，负载和方向)和实时比较的数字化仪成为执行功能测试的关键。解决这些功能的基本配置如图2所示。   如图2所示的单个PMU，开关网络(多路复用)和数字化仪的组合对于中等到高引脚数器件而言，快速变得笨重且性能受限。此外，用于DC测试的开关时间和编程/测量时间的组合很轻易就需要10甚至100毫秒，用于DC参数测试的时间就会变得很长。  一个更好的解决方案和的ATE或“bigiron”系统通常使用的是每个引脚或通道包含一个PMU，从而供应出众的测试性能(包括速度和测量精度)。图3具体说明白每引脚配置的PMU的数字仪器的架构。   现今，Marvintest的半导体测试解决方案的GX5295具有32通道数字I/O和每引脚PMU架构，可作为紧凑型PXI测试平台的一部分，例如TS-900半导体测试系统-为用户供应多通道数数字和混合信号测试系并且具有小型，紧凑的PXI机箱占地面积。(图4)   直流参数测试  如前所述，PMU可以使用两种模式之一，以对数字设备的输入和输出线执行直流特性测试：  §强制电压/测量电流  使用这种方法，PMU施加恒定电压并使用其板载测量力量来测量被测试的设备/引脚所吸取的电流,还可以测量由PMU供应的电压。  §强制电流/测量电压  使用这种方法，PMU强制恒定电流流过器件或从器件引脚汲取恒定电流，然后测量电压，还可以测量PMU的灌电流/源电流。  通过将每个通道的PMU与数字测试功能组合在一个仪器中，可以显著简化对数字和混合信号器件执行的一系列直流测试。在半导体器件上执行的常见直流测试包括：  nVIH：(高电平输入)施加到器件输入的正电压，器件将被规律高接受  nVIL：(低电平输入)施加到器件输入的正电压，器件将被规律低接受  nVOL：(低电平输出)器件输出的正电压定义为“保证”指定负载电流下的低正电平  nVOH：(高电平