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附件一: 成品可靠性实验项目清单
NO
产品
状态
项目
数量
试验条件
试验设备
试验方法及判定
1
成品
振动试验
5箱
频率范围为5-100HZ,加速度为7.5m/s^2
时间T:3小时
振动耐磨试验机
试验方法:
被测样机包装箱振动实验台上,实验参数为:频率范围为5-100HZ,加速度为7.5m/s^2, 扫频2次,扫频速度为每分钟0.5 个倍频程。在XYZ 3个方向振动1个小时,共3 个小时。
判定方法:
实验完后每个样机进行功能和外观检查,判定参见NOK123 判定。内部包装不允许有破裂损伤。
2
成品
高温储存
5PCS
高温HT:70℃±2℃、时间T:8小时
恒温恒湿箱
试验方法:
1、将样机关机不插sim卡及T卡状态放到温湿度柜,一半样机TP面朝上,一半样机TP面朝下,(如样机属于翻盖、滑盖手机,应将一半的样机处于翻盖状态或滑盖状态。)
2、降恒温恒湿箱的温度在一小时内上升至高温HT(见主要参数规定)。
3、保持时间T(见主要参数)后, 将温度下降到25℃。
4、测试完成后,将样机恢复至常温进行外观、机械性能、电气性能,射频基本指标的检测,并记录测试数据。
判定方法:
1、样机不能有材料明显的退化,包括但不限于以下现象,如退色,起皮,鼓泡,喷漆的脱落,材料软硬的明显变化等,电池盖内部石墨烯轻微起翘可以判断合格 。
2、样机不能有机械结构的损坏,包括但不限于以下现象,如显示屏亮点、条纹、漏光、漏液等显示异常;外部或内部器件的脱落,壳体的开裂,不可恢复性的缝隙,结构件或电池的变形,鼓包;转轴异响,滑轨异常等。
3、样机功能不可发生任何失效或削减,包括但不限于以下功能,如开、关机重启,内存丢失,按键弹性不良,马达振动弱,触摸屏点屏不准,听筒、喇叭杂音等。
4、样机各项功能正常,射频指标测试前后无明显差异(排除测试误差波动后)
NO
产品
状态
项目
数量
试验条件
试验设备
试验方法及判定
3
成品
低温储存
5PCS
低温LT:-30℃±2℃时间T:8小时
恒温恒湿箱
试验方法:
1、将样机关机不插sim卡及T卡状态放到温湿度柜,一半样机TP面朝上,一半样机TP面朝下(如样机属于翻盖、滑盖手机,应将一半的样机处于翻盖状态或滑盖状态)。
2、将恒温恒湿箱的温度在一小时内下降到低温LT(主要参数规定)。
3、在LT温度下样品保持时间T(见主要参数)后,然后将温度回升至25℃,保持2小时。
4、测试完成后,将样机恢复至常温进行外观、机械性能、电气性能,射频基本指标的检测,并记录。
判定方法:
1、样机不能有材料明显的退化,包括但不限于以下现象,如退色,起皮,鼓泡,喷漆的脱落,材料软硬的明显变化等,电池盖内部石墨烯轻微起翘可以判断合格 。
2、样机不能有机械结构的损坏,包括但不限于以下现象,如显示屏亮点、条纹、漏光、漏液等显示异常;外部或内部器件的脱落,壳体的开裂,不可恢复性的缝隙,结构件或电池的变形,鼓包;转轴异响,滑轨异常等。
3、样机功能不可发生任何失效或削减,包括但不限于以下功能,如开、关机重启,内存丢失,按键弹性不良,马达振动弱,触摸屏点屏不准,听筒、喇叭杂音等。
4、样机各项功能正常,射频指标测试前后无明显差异(排除测试误差波动后)
4
成品
循环温度冲击
5PCS
低温LT:-30℃±2℃、高温HT:70℃±2℃、循环次数N:20次
温度冲击箱
试验方法:
1、将样机关机不插sim卡及T卡状态放到温度冲击箱,一半样机TP面朝上,一半样机TP面朝下(如样机属于翻盖、滑盖手机,应将一半的样机处于翻盖状态或滑盖状态)。
2、设置温度冲击箱温度快速下降到低温LT(见主要参数),温变时间少于5分钟;样机在LT温度下保持30分钟。
3、将温度冲击箱温度回升至高温HT(见主要参数),温变时间少于5分钟(或直接转移样品至高温柜,转移时间小于10秒);样机在HT温度下保持30分钟。
4、重复步骤(3)~(4)为一个循环。
5、总共测试N个循环后(见主要参数),降低温度至25℃,并保持2小时。
6、测试完成后,将样机恢复至常温进行外观、机械性能、电气性能,射频基本指标的检测,并记录测试数据。
NO
产品
状态
项目
数量
试验条件
试验设备
试验方法及判定
4
成品
循环温度冲击
5PCS
低温LT:-30℃±2℃、高温HT:70℃±2℃、循环次数N:20次
温度冲击箱
判定方法:
1、样机不能有材料明显的退化,包括但不限于以下现象,如退色,起皮,鼓泡,喷漆的脱落,材料软硬的明显变化等,电池盖内部石墨烯轻微起翘可以判断合格 。
2、样机不能有机械结构的损坏,包括但不限于以下现象,如显示屏亮点、条纹、漏光、漏液等显示异常;外部或内部器件的脱落,壳体的开裂,不可恢
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