一维、二维几何尺寸测量校准规范.pdfVIP

JJF(新)68-2021 一维、二维几何尺寸测量校准规范 1 范围 本规范适用于一维、二维尺寸以及角度的测量。 2 引用文件 本规程引用下列文件： JJF 1059.1-2012 测量不确定度评定与表示 JJF 1071-2010 国家计量校准规范编写规则 JJF 1094-2002 测量仪器特性评定 GB/T 18780.1-2002 GPS 1 产品几何量技术规范 （ ）几何要素 第 部分：基本术语 和定义 凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文 件，其最新版本 （包括所有的修改单）适用于本规范。 3 概述 一维测量是单一轴向尺寸测量；二维测量是平面坐标尺寸测量，包含平面内任意 点与点之间、点与线之间、线与线之间的测量。 一维尺寸测量的方法有很多，可分为直接测量和比较测量，测长机 （仪）、光学 计、工具显微镜、影像仪器都可进行测量。 二维尺寸测量和角度测量一般是直接测量，主要测量仪器有工具显微镜、影像仪 等，间接测量角度的主要测量仪器有正弦规等。 4 计量特性 4.1 尺寸测量 一维尺寸测量范围≤2000mm； 二维尺寸测量范围≤400mm×500mm； (例如：校棒、测杆、圆周校棒、足迹尺、比例尺、多功能孔距测量器、划格器、 指环棒等) 4.2 角度 1 JJF(新)68-2021 角度测量范围：（0～360）° (例如：量角器、关节量角器、扇形板、量锥等) 5 校准条件和校准设备控制 5.1 环境条件要求详见表1 表1 环境条件 测量方法 测量范围 （mm） 环境温度 （℃） 平衡温度时间 （h） 一维测量 L≤2000 （20±2） 4 二维测量 L≤400×500 （20±2） 4 5.2 校准项目和校准用设备 校准项目和校准用设备见表2。 表2 校准项目和校准用设备 序号 校准项目 校准用设备及技术要求 工具显微镜：测量范围：100mm×200mm ，最大 允许误差MPE:± （1+L/100）μm 影像仪：测量范围：400mm×500mm ，最大允许 1 尺寸 误差MPE:± （2+L/200）μm 测长机：测量范围：（0～ 2000）mm ，最大允许 误差MPE:± （0.5+L/100）μm （其中L 单位为mm） 测量范围：（0~360）° 工具显微镜：测角目镜：MPE: ±1′ 光学分度台：MPE: ±10″ 2 角度