一种芯片生产用厚度测试仪.pdfVIP

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2023-03-28 发布于四川
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一种芯片生产用厚度测试仪.pdf

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本实用新型公开了一种芯片生产用厚度测试仪，包括：测试仪主体，所述测试仪主体的一侧开设有放置槽；测试结构，所述测试结构位于放置槽的底部，所述测试结构包括超声波发生器、超声波测厚探头和压板，所述测试仪主体位于放置槽的顶部滑动设置有超声波发生器。本实用新型通过转动调节螺栓即可使固定板进行移动，从而对芯片的两侧进行固定，防止芯片在测厚的过程中发生移动，影响到测厚的准确度，长时间不使用测试仪的时候，可以通过拉动固定块使两个磁铁块进行磁性相吸，就能使防尘布对测试仪主体的表面进行笼罩，防止落灰，需要使用时只需

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213984983 U (45)授权公告日 2021.08.17 (21)申请号 202023051432.5 (22)申请日 2020.12.17 (73)专利权人联物科技实业无锡有限公司