一种集成电路测试系统直流电压校准转接板及校准方法.pdfVIP

一种集成电路测试系统直流电压校准转接板及校准方法.pdf

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本发明公开了一种集成电路测试系统直流电压校准转接板及校准方法,其基于测试系统对芯片直流电压参数的测试流程,设计一直流电压校准转接板,通过直流电压校准转接板将外接仪表并联在测试回路中,从而将测试系统直流电压参数的测试信号引出,由外接仪表进行在线测量,并将外接仪表得到的测量参数标准值与测试系统的测量示值进行比较,进而得到测试系统的误差,实现完全基于测试系统直流电压参数的正常测试流程进行校准,能够真实反映测试系统在实际工作状况下的技术指标;且通过将测试信号引出至外接仪表进行测量,实现了完整的量值溯源;

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114019437 A (43)申请公布日 2022.02.08 (21)申请号 202111085518.6 (22)申请日 2021.09.16 (71)申请人 中国船舶重工集团公司第七0九研

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