一种电子元件平移式测试分选机.pdfVIP

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2023-04-25 发布于四川
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一种电子元件平移式测试分选机.pdf

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本发明公开了一种电子元件平移式测试分选机，属于芯片测试设备技术领域，其具有电子元件低温测试功能，分选机包括料管、上料运料区、测试区和下料运料区，料管包括用于上料的上料料管和用于下料的下料料管，分选机还包括一级密封腔和二级密封腔，且一级密封腔中充有干燥气，测试区位于一级密封腔内，上料运料区和下料运料区位于二级密封腔内，一级密封腔与二级密封腔之间、料管与二级密封腔之间能够连通，以承接电子元件，本方案中，除了在测试区设置密封外，紧挨测试区的上料运料区和下料运料区也设置密封，以增大密封范围，降低和减缓测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114029249 A (43)申请公布日 2022.02.11 (21)申请号 202111275814.2 (22)申请日 2021.10.29 (71)申请人杭州长川科技股份有限公司