Cr靶XRD法测试连退板磷化膜P比的方法.pdfVIP

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2023-05-11 发布于四川
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Cr靶XRD法测试连退板磷化膜P比的方法.pdf

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本发明具体涉及一种Cr靶XRD法测量连退板磷化膜P比的方法，属于材料检测技术领域，该方法包括：取预测样品小试样；采用Cr靶X射线衍射法对所述小试样进行全谱扫描；判断所述全谱扫描结果中，Fe基体衍射峰以外的磷化膜最强峰位是否在14°‑15°之间，若是，则对所述小试样进行窄谱扫描；根据所述窄谱扫描的峰强值，获得连退板磷化膜P比；本发明实施例提供的Cr靶XRD法测试连退板磷化膜P比的方法，采用Cr靶代替Cu靶，提高了X射线源的波长，使磷化膜中重叠峰的衍射角2θ差由0.24°提高到0.35°，使磷化膜中

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 111678934 A (43)申请公布日 2020.09.18 (21)申请号 20201