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本发明的制品缺陷的评估方法包括:录入标准特征参数、参数阈值及已知缺陷特征,按部位不同分类各缺陷特征;录入原因数据,构建原因数据库;采集待测制品图像信息并输送至处理模块判定各所测制品缺陷类别,计算制品各部位特征参数,计算各类缺陷制品在已测制品中占比,计算获得超出对应参数阈值制品在已测制品中占比;之后根据各类缺陷制品在所有已测制品中的占比输出对应原因数据,评估缺陷占比过高原因,若存在未知缺陷特征,则可定义缺陷类别并增加对应原因数据。本申请构建原因数据库,根据各类缺陷产品占比不同评估占比过高原因。对所
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116106309 A
(43)申请公布日 2023.05.12
(21)申请号 202111319685.2
(22)申请日 2021.11.09
(71)申请人 苏州优斯登物联网科技有限公司
地址
原创力文档


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