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缺陷检测模型的优化方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2023-05-18 发布于四川
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缺陷检测模型的优化方法、装置、设备及存储介质.pdf

    本申请公开了一种缺陷检测模型的优化方法、优化装置、电子设备以及存储介质。缺陷检测模型由神经网络模型根据基础图像集训练得到，优化方法包括：获取终端设备数据和产品设计图像；在产品设计图像发生变化的情况下，根据产品拍摄图像和基础图像集训练缺陷检测模型以得到目标缺陷检测模型，或/和，在终端设备数据发生变化的情况下，根据终端设备采集的产品拍摄图像和基础图像集训练缺陷检测模型以得到目标缺陷检测模型。本申请的优化方法中，在产品设计图像发送变化时，或者，在设备以及工艺变换过程中，能够快速生成新的图像集，减少缺陷

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114862832 A (43)申请公布日 2022.08.05 (21)申请号 202210611891.9 G06V 10/764 (2022.01)

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