一种测量取向硅钢高斯取向晶粒偏离角度试样的制备方法.pdfVIP

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2023-05-18 发布于北京
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一种测量取向硅钢高斯取向晶粒偏离角度试样的制备方法.pdf

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本发明公开了一种测量取向硅钢高斯取向晶粒偏离角度试样的制备方法，其主要制备流程包括：试样剪切→试样预处理→试样腐蚀→高斯取向晶粒选取标定→X射线检测。本发明的目的是提供一种测量取向硅钢高斯取向晶粒偏离角度试样的制备方法，本发明提供的方法制样简单且操作较为便捷，对于精确测量高斯织构取向偏离角度提供了可靠的条件。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114859003 A (43)申请公布日 2022.08.05 (21)申请号 202210500443.1 (22)申请日 2022.05.09 (71)申请人包头钢铁（集团）有限责任公司地址