氧化炉层高精度测量方法.pdfVIP

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  • 2023-06-02 发布于四川
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本发明提供一种氧化炉层高精度测量方法,该氧化炉层高精度测量方法包括如下步骤:S1、将激光水平仪的水平激光线发射至任意一个测量层的一条基准线上、或者氧化炉顶面或氧化炉底面位置,调整所述氧化炉,使所述水平激光线与该位置处于同一水平面上;S2、利用卷尺以所述水平激光线为水平基准线,测量若干个所述测量层的层高;S3、测量所述水平基准线到所述氧化炉顶面及所述氧化炉底面的高度。激光水平仪不受本身设置位置的平整度影响,仅需调整即可发出水平激光线,根据激光水平仪的水平激光线调整氧化炉,能快速调整氧化炉至所需要的

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115790544 A (43)申请公布日 2023.03.14 (21)申请号 202211461333.5 (22)申请日 2022.11.21 (71)申请人 上海外高桥造船有限公司 地址 20

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