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描述了一种用于生成用于使用由诸如机床(34)等坐标定位设备承载的测量探头(4;30)来检查物体(82)的测量循环的方法。所述测量循环包括测量路径,所述测量探头(4;30)沿着所述测量路径相对于所述物体(82)移动,以使得能够使用一系列接触触发式测量来检查所述物体(82)。所述方法包括在所述物体(82)的表面上定义多个接触触发式测量点(80a至80e)的步骤。所述多个接触触发式测量点(80a至80e)中的每一个都具有相关联的间隔位置(84a至84e),从所述相关联的间隔位置使所述测量探头朝向所述接
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112585483 A
(43)申请公布日 2021.03.30
(21)申请号 201980054413.9 (74)专利代理机构 北京柏杉松知识产权代理事
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