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本发明公开了一种螺旋测微器校准系统及其校准方法，属于校准检验领域。本系统包括：预处理模块、采集模块、处理模块以及校准模块；预处理模块用于对螺旋测微器进行预处理，为后续的校准提供有效的检测数值；采集模块用于采集螺旋测微器所测试的数据，从而获得螺旋测微器的偏移量；处理模块利用采集模块获取的偏移量对螺旋测微器进行校准值处理；校准模块用于明确校准目标需求，利用编码器根据校准目标需求对螺旋测微器进行校准。同时还提供一种螺旋测微器校准方法，能够避免螺旋测微器在使用中随时间变化计量性发生偏移，以保证长期保持检
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115773701 A
(43)申请公布日 2023.03.10
(21)申请号 202211666056.1
(22)申请日 2022.12.23
(71)申请人 常州伊贝基位移科技有限公司
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