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本发明公开了一种片内逻辑分析仪及芯片调试方法，涉及电子技术领域。该片内逻辑分析仪的一具体实施方式包括：触发及采样模块，与被调试芯片的顺序输出模块连接，用于对顺序输出模块输出的GPIO信号进行判断，并在满足触发条件时对GPIO信号进行数据采样；存储及传输模块，用于将触发及采样模块采集的采样数据存储到被调试芯片的RAM；并将片内逻辑分析仪的调试状态写入寄存器；以及，在上位机读取采样数据时，将采样数据从RAM搬运到寄存器；通讯及指令解码模块，与被调试芯片的AUX通道编解码模块连接，用于建立与上位机进行
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112634801 B
(45)授权公告日 2022.06.10
(21)申请号 202110022556.0 G09G 3/00 (2006.01)
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