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2023-06-03 发布于四川
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一种用于单晶片厚度检测设备.pdf

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本发明公开了一种用于单晶片厚度检测设备，包括检测装置，所述检测装置内还设有进行单晶片厚度检测的检测机构，所述检测装置内还设有提供装置动力的驱动机构，所述检测装置内还设有进行输送单晶片的辅助机构，该装置结构简单，操作便捷，该装置在正常使用时工作人员首先将装置放置在水平桌面上，然后再将单晶片放置在装置内，需逐个放置，之后装置会自动进行单晶片厚度的检测，当单晶片厚度位于检测合格的区间范围时，此时装置会自动将合格的单晶片放置在一起，若在此区间外，则处于不合格，此时单晶片会统一放置在不合格区，提高了单晶片

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112620133 A (43)申请公布日 2021.04.09 (21)申请号 202110014496.8 (22)申请日 2021.01.06 (71)申请人南京誉生缘商贸有限公司

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