一种线扫描膜厚测量系统.pdfVIP

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  • 2023-06-17 发布于四川
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本发明公开了一种线扫描膜厚测量系统,包括:照射模块、光谱成像模块和数据处理模块;所述照射模块采用离散分布的光纤,用于产生离散的线性平行光束,垂直照射待测样品;所述光谱成像模块,用于采集待测样品被照射后表面形成的干涉光,生成具有位置维度和光谱维度的二维图像;所述数据处理模块,用于对二维图像进行功率谱分析得到待测样品膜厚。本发明照射模块采用离散分布的光纤,产生离散的线性平行光束,离散测量可以测得远多于单点测量所获得的膜厚,所得到的膜厚分布更接近真实分布。同时产生离散的线性平行光束,减少了膜厚叠加情况

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113267130 B (45)授权公告日 2022.08.05 (21)申请号 202110658140.8 审查员 郑俊 (22)申请日 2021.06.11

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