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本发明公开了一种基于IEEE1149和IEEE1500标准的层次化SoC测试方案，涉及SoC芯片测试领域；其中，IEEE1500标准协议用于独立的进行SoC内部单个嵌入式内核测试，通过在嵌入式内核与系统之间定义内核测试接口来标准化IP内核测试结构，以便通过内核访问机制促进内核的测试复用；同时有效完成内核的测试和隔离，分区测试块之间的切换，达到完整测试SoC的目的；本发明通过改进IP内核集成的外围电路，实现层次化SoC中内核外核并行同步测试，最终达到减少测试时间的目的；可以为大型SoC产品提供灵活
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113433448 B
(45)授权公告日 2022.05.03
(21)申请号 202110649053.6 审查员 王晓萍
(22)申请日 2021.06.10
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