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本发明涉及等离子物理核探测技术领域，尤其是提供一种短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法，其中测量方法包括：入射的X射线通过准直组件落入散射体上以产生散射光子，并通过半导体像素探测器探测出散射光子信号；利用半导体像素探测器获取散射光子能量的测量值E1，基于测量值E1计算出X射线光子的能量E0；利用半导体像素探测器获取散射光子像素位置；基于散射光子像素位置，然后通过数据拟合获取X射线的偏振方向和偏振度。其目的在于，用以解决现有偏振测量仪无法在未知X射线偏振方向的情况下，快速测量偏振度并实现对入射X
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116295843 A
(43)申请公布日 2023.06.23
(21)申请号 202211618397.1
(22)申请日 2022.12.15
(71)申请人 中国工程物理研究院激光聚变研究
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