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本发明涉及清洁方法、半导体器件的制造方法、记录介质、衬底处理装置。能够通过对衬底进行等离子体处理使在反应容器的内表面上形成的沉积膜的除去变得容易。具有通过将包括下述工序的循环执行规定次数,使沉积膜改性为包含氧化层及氮化层的膜的工序:(a)向在内表面上形成有沉积膜的反应容器内供给含氧气体,并对含氧气体进行等离子体激发,从而使沉积膜氧化的工序;和(b)向反应容器内供给含氮气体,并对含氮气体进行等离子体激发,从而使沉积膜氮化的工序。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116329192 A
(43)申请公布日 2023.06.27
(21)申请号 202211520696.1
(22)申请日 2022.11.29
(30)优先权数据
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