可寻址测试芯片用开关电路及高密度可寻址测试芯片.pdfVIP

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2023-07-05 发布于四川
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本发明提供的可寻址测试芯片用开关电路，包括若干待测器件和若干开关，能通过控制所述开关的通断状态以选中指定的待测器件连通测试通路；相邻两个所述待测器件共享位于其中一个待测器件同一端的激励开关和感应开关；所述待测器件、其与相邻待测器件所共享的所述感应开关之间连接有中间开关。本发明的开关电路能够在测量选中的器件时，感应端仅有连接选中的待测器件的一端导通而另一端关断，解决了因共享开关而引入的绕线电阻误差，优化了共享电路在小电阻测量应用中精确度。本发明还提供的高密度可寻址测试芯片因具有本发明的可寻址测试芯

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113791334 A (43)申请公布日 2021.12.14 (21)申请号 202111128760.7 (22)申请日 2021.09.26 (71)申请人杭州广立微电子股份有限公司

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