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超细至纳米级过氧化银粉体的制备及表征 过氧化银具有独特的电、光、电、光、电、环氧化等特点。它在促进高比功率电池、小型存储设备和高性能材料方面具有很大的发展空间。 1 测试 1.1 过氧化银粒子晶型结构的测试 试验所需的主要原料包括碳酸银、氢氧化钠、过硫酸钠、十二烷基苯磺酸钠、碘化钾、淀粉、硫代硫酸钠、稀硝酸、稀盐酸和去离子水等。 采用辽宁丹东方圆DX-2000型X射线衍射仪测试过氧化银粒子的晶型结构, 测试所用靶材为铜, 工作电压为40kV, 电流为30 mA, 扫描速度为0.02 (°) /s, 在2θ为20°~80°的范围内收集衍射峰型, 通过与标准谱图 (PDF卡片) 对比, 标定各组成相。采用场发射扫描电子显微镜JSM—5900LV拍摄照片, 观察试样的形貌、粒径。 1.2 超细过氧化银粉体的制备 超细过氧化银粉体的制备过程中涉及到的反应原理为:采用碳酸银与硝酸为原料先制备中间产物硝酸银溶液, 再利用硝酸银、过硫酸钠和氢氧化钠在碱性条件下制备超细过氧化银粉体。具体的化学反应方程式包括: 1.3 硝酸银溶液的制备 超细过氧化银粉体制备工艺如下。 1) 配制浓度为0.2mol/L的稀硝酸溶液及浓度为5 mol/L的氢氧化钠溶液备用。称取1.38g (0.005mol) 碳酸银粉末, 将其加入烧杯中, 然后滴加稀硝酸直至碳酸银恰好完全溶解, 即可得到浓度约为0.2mol/L的硝