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一种集成芯片检测用辅助冶具.pdfVIP

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  • 2023-07-26 发布于四川
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一种集成芯片检测用辅助冶具.pdf

    本实用新型公开了一种集成芯片检测用辅助冶具，包括测试板体，所述测试板体的左右两侧对称固定连接有测安装条，且测安装条的表面均匀开设有定位孔，所述测试板体的上表面设置为放置面，所述测试板体的底面开设有底仓，所述测试板体的中心设置有辅助定位机构，当中心块右侧移动后，同时位于滑动板上端滑动连接于测试板体表面的两组第一定位板便会顺势向着测试板体的中心靠近，同时第二定位板也会在中心块带动水平弹簧右移的同时而向着测试板体的中心靠近，此时在两组第一定位板与一组第二定位板的同步夹持作用下，促使芯片能够在第一时间内

    (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 219417521 U (45)授权公告日 2023.07.25 (21)申请号 202223147282.7 (22)申请日 2022.11.27 (73)专利权人 安泊智汇半导体设备（上海）有限

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