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本申请提供了一种测量系统,应用于安全玻璃的副像偏离测量中,能够消除测量系统中组装误差引起的平板元件间表面的平行度变差所导致的系统副像,从而提升测量的准确性。该系统包括:成像单元和N个平板元件。其中,N个平板元件中的至少一个平板元件放置在光源与待测样品之间的光路上,和/或,放置在待测样品与成像单元之间的光路上。N个平板元件中的第一平板元件包括第一表面和第二表面,该第一表面或第二表面的法线与测量系统的光轴的夹角不等于0。N为大于或者等于1的整数。第一平板元件的第一表面或第二表面的法线与系统光轴的夹角
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 219434659 U
(45)授权公告日 2023.07.28
(21)申请号 202320282434.X
(22)申请日 2023.02.13
(73)专利权人 北京杰福科技有限公司
地址 1
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