一种存储器的板级环境测试装置及方法.pdfVIP

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2023-08-02 发布于四川
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一种存储器的板级环境测试装置及方法.pdf

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本发明涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种存储器的板级环境测试装置及方法。包括：驱动板，包括：串口模块、FPGA芯片、存储模块、电源模块、时钟模块、电平转化模块和金手指一；所述FPGA芯片分别与所述存储模块、所述串口模块、所述电源模块、所述时钟模块和所述电平转化模块连接，所述电平转化模块与所述金手指一连接；上位机，所述上位机通过所述串口模块与所述驱动板进行连接和通讯；工位板，包括：被测芯片插座和金手指二，所述金手指二与所述被测芯片插座连接；其中所述工位板放置于高低温箱内；通过所述金手指一和所述

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116524991 A (43)申请公布日 2023.08.01 (21)申请号 202310582835.1 (22)申请日 2023.05.23 (71)申请人中国电子科技集团公司第五十八研