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本实用新型涉及一种LED线结构光高精度轮廓测量装置，包括工作平台，所述工作平台中部放置有被测工件，所述工作平台上方设置有LED光源和工业相机，所述LED光源的照射端竖直向下且朝向被测工件，LED光源的照射端固定设置有光阑，所述光阑呈平板状，光阑周边与LED光源的照射端周边密封连接，光阑中部设置有一字形狭缝，所述工业相机位于被测工件的一侧，工业相机的镜头倾斜向下且朝向被测工件。本实用新型的目的在于为了解决或至少减轻采用激光作为测量光源进行轮廓测量时，光线相互干涉会形成激光散斑噪声，影响轮廓测量精度
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 219511480 U
(45)授权公告日 2023.08.11
(21)申请号 202320769297.2
(22)申请日 2023.04.10
(73)专利权人 西安工程大学
地址 71000
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