一种观察硅碳粉料内部结构的方法.pdfVIP

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2023-08-12 发布于四川
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一种观察硅碳粉料内部结构的方法.pdf

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本发明提供了一种观察硅碳粉料内部结构的方法，包括以下步骤：在载体上涂覆导电银胶，将硅碳粉料均匀喷洒在导电银胶上，对载体进行裁剪得到检测样品；将检测样品放入离子研磨仪进行切割，得到抛光样品；通过扫描电镜和/或能谱仪对抛光样品进行观察。本发明所述的观察硅碳粉料内部结构的方法利用液体导电银胶替代导电碳胶，能避免极片中掺杂的石墨颗粒以及导电剂中碳元素的干扰，准确定量出材料本身的碳元素含量及元素分布。硅碳粉末样品喷洒在导电银胶上后通过离子研磨仪切割，去除样品表面层，加工出光滑表面，不会破坏硅碳粉末表面形貌

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116577365 A (43)申请公布日 2023.08.11 (21)申请号 202310329653.3 (22)申请日 2023.03.30 (71)申请人天津市捷威动力工业有限公司地址