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本申请提出了一种芯片输出信号在不同反射条件下的通用扩展测试板。本申请的通用扩展测试板，设置有多条传输路径，多条所述传输路径的水平方向总长度实质相等，但多条所述传输路径的阻抗不完全相等。以此，可以利用不同的传输路径模拟不同的信号线非理想情况，例如在不同的引起反射条件下的质量变差情况，从而，可用于测试多种非理想情况下对信号的影响，并适用于单端或差分等多种类型的传输线。例如，本申请可用于于测试制作出的芯片为减少反射的最佳端接参数值，以及在各种不同的引起反射条件下的容限。
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 219552455 U
(45)授权公告日 2023.08.18
(21)申请号 202223236045.8
(22)申请日 2022.11.24
(73)专利权人 井芯微电子技术 （天津）有限公司
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