- 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本实用新型提供一种基于晶圆键合技术的集成锗光电探测器,包括:硅波导层,所述硅波导层中形成有锗光电探测器的下接触层;介质层,位于所述硅波导层上,所述硅波导层中具有锗光电探测器集成窗口,该集成窗口显露所述下接触层;单晶材料层,填充于所述集成窗口中,所述单晶材料层为单晶硅层或单晶锗材料层;锗吸收区,键合于所述单晶材料层;上接触层,形成于所述锗吸收区上部;下电极,形成于所述下接触层上;上电极,形成所述上接触层上。本实用新型通过将具有单晶结构的锗材料衬底与硅直接键合方式集成,可以获得质量更高的锗材料以及锗
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210182395 U
(45)授权公告日
2020.03.24
(21)申请号 20192
原创力文档


文档评论(0)