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受控线性移位测试生成方法研究的中期报告 目前，受控线性移位测试生成方法研究已完成中期阶段的工作。在这个阶段，我们主要完成了以下工作： 1. 研究了受控线性移位寄存器 (C-LFSR) 的原理和特点。C-LFSR 是一种具有可控性的 LFSR，它可以通过操纵控制变量来控制输出序列的性质，从而产生一系列测试模式。 2. 提出了一种基于遗传算法 (GA) 的 C-LFSR 测试生成方法。该方法通过优化目标函数来求解最优的控制序列，从而生成一组高质量的测试模式。与传统方法相比，该方法具有更强的全局优化能力和更高的测试效率。 3. 实现了所提出的 C-LFSR 测试生成方法，并在多个芯片级别电路上进行了实验验证。实验结果表明，该方法可以有效地提高测试效率和测试覆盖率，并且具有较好的通用性和实用性。 4. 分析了所提出方法的优缺点，并针对不足之处提出了改进建议。同时，也对未来工作进行了规划，包括对算法性能、芯片级别测试、异步电路测试等方面的深入研究。 总体来说，本研究期内取得了一定的成果，但还有许多问题需要进一步解决。我们将继续深入研究，努力推进受控线性移位测试生成方法的发展。