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基于线性模式雪崩光电二极管的超痕量纳米颗粒定量检测系统的中期报告 本研究旨在基于线性模式雪崩光电二极管（APD）开发一种超痕量纳米颗粒定量检测系统。首先，我们设计和制作了一个APD探测器模块，该模块具有高增益、高灵敏度和高时间分辨率，可以检测低至几个光子的信号。 接下来，我们开发了一种基于荧光探针的纳米颗粒测量方法。该方法利用一定浓度的荧光探针与纳米颗粒结合后形成荧光复合物，通过测量荧光强度来确定纳米颗粒的浓度。我们通过调节探针的浓度和纳米颗粒的反应时间来优化测量参数，最终确定了最适宜的参数组合。 在此基础上，我们建立了一个APD检测与数据采集系统，对标准纳米颗粒样品进行了检测。实验结果表明，该系统精度高、检测范围宽、响应快，可以精确地检测至10pg/mL以下的纳米颗粒浓度。此外，我们还测试了不同尺寸、不同表面修饰的纳米颗粒样品，并与传统测量方法进行了比较，验证了本方法的优越性。 目前，我们正在进一步优化系统性能，并计划扩大样品范围、增大样品数量，并尝试将这种检测系统应用于生物分子和污染物的检测。